深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

发布时间:2026-06-04

SWT-7000IV

可更换探针。简便测量方法,键位布局简单

特别内容

应用

涂层/衬里/镀层

绝缘膜,如阳极氧化物涂层(ALMITE)

规格

分布范围

取决于可选探针

展示

图形液晶屏(数据、消息)、倒车灯

校准

两点校准类型

校准曲线

1

数据传输

USB

动力来源

干电池(LR6 1.5V)×2,AC适配器
连续工作时间:
50小时。

温度

0~40°C(非凝结)

尺寸

72(西)×30(H)×156(D)毫米

重量

200克

配件

干电池、手机壳、手提带线、
检查证书、光盘(说明书、
USB驱动器等)

选项

对于有色基底探针(Fe)对于有色基底探针(NFe)

其他

※SWT-7000 III系列已改装为7000 IV系列。
※SWT-7000III系列与7000IV系列探头不兼容。

深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

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