MCPD-9800/6800 是高性能多通道分光光度计，集成多通道并行检测光路，覆盖紫外 - 可见 - 近红外完整光谱波段，单次全谱采集仅需 5ms，依托标准光纤接口实现模块化拓展，可适配显微光谱、光源测试、薄膜检测、色彩评估等多场景精密光学测量，是半导体、光学镀膜、材料研发、色彩质检领域的通用光谱检测设备。
波段覆盖：紫外（UV）→可见光（VIS）→近红外（NIR）全波段连续采集，可根据型号定制细分区间
采集速度：全光谱单次测量≤5ms，支持 24h 连续高速在线检测，适配产线批量样品快速测试
光路结构：多通道并行分光光路，搭载高分辨率光栅，信噪比高，弱信号样品检测无失真
信号输出：光纤耦合标准接口，兼容各类光学附件、显微镜头、积分球、样品载台
光纤模块化设计：标准光纤输出端口，无样品限制，可自由搭配透射 / 反射 / 显微采样配件，无需定制改造测量系统
一体化整机结构：主机集成探测器、分光模块、信号处理单元，体积紧凑，可直接集成于自动化产线、实验室真空腔体
软件联动接口：配套*光谱分析软件，支持光谱原始数据导出、算法二次开发，可对接上位机自动化控制系统
毫秒级高速全谱采集区别传统单通道扫描式分光光度计，多通道并行光路一次性完成全波段光谱捕获，5ms 完成单次测量，大幅缩短批量样品检测时长，适配产线在线连续监测、高速样品流检测场景。
全波段广谱适配能力完整覆盖紫外至近红外波段，可同时满足紫外吸收、可见光色彩、近红外薄膜光学特性多维度检测，单台设备替代多台单一波段检测仪器，降低设备采购与运维成本。
光纤通用模块化拓展标准光纤耦合结构可兼容显微光谱探头、积分球、反射测头、透射样品池等配件，不受样品形态限制，固体薄膜、液体试剂、光源器件、晶圆样品均可直接测量，适配实验室研发、工业量产多场景切换。
多维度复合检测算法支持配套*分析软件内置多套测量算法：
发射光谱分析：光源色温、亮度、色坐标检测
透射 / 反射光谱分析：材料透过率、反射率曲线绘制
薄膜厚度拟合算法：光学薄膜、晶圆镀膜厚度无损测算
色彩评估算法：CIE Lab、XYZ 色彩空间色差、外观颜色分级判定
低噪声稳定检测性能内置降噪电路与恒温探测器模组，长时间连续运行光谱基线无漂移，重复性误差低，满足半导体、光学行业高精度质检、研发溯源数据留存要求。
晶圆镀膜、光学薄膜厚度无损在线测量；
刻蚀、沉积工艺后样品光学特性表征；
真空腔体光源发射光谱监测（搭配 KF 真空光纤管路）。
LED、氙灯、卤素灯等光源发射光谱、色温、显色指数检测；
光学镜片、滤光片透射 / 反射光谱；
显微光学、电子束设备微小样品光谱采集。
液体试剂紫外 - 可见吸收光谱定性定量分析；
*功能材料、涂层光学性能研发测试；
样品色彩均匀性、色差分级质量管控。
显示屏、光伏玻璃外观色彩在线检测；
流水线样品高速无损光谱筛查，联动自动化上下料设备。
光学采样配件：积分球、显微光纤探头、透射样品池、反射测头；
真空配套组件：NFK V-KF 系列 KF 真空波纹管、真空光纤转接接头，适配真空腔体光谱测量；
自动化配套：上位机分析软件、产线数据采集模块、样品自动载台；
辅助设备：标准校准光源、光谱校准片，用于设备定期精度。
表格
| 型号 | 核心定位 | 适用场景 |
|---|---|---|
| MCPD-6800 | 经济型通用款 | 常规实验室、中小型产线色彩 / 光源基础检测，标准分辨率 |
| MCPD-9800 | 高端高精度款 | 半导体薄膜、科研高精度光谱分析，更高分辨率、更低噪声，支持高速连续采集 |
MCPD-9800/6800 打破传统分光光度计单通道低速测量局限，以多通道并行采集、光纤模块化拓展、全波段覆盖三大核心技术，实现一台设备覆盖研发、质检、产线在线全流程光谱检测需求，兼顾检测速度、测量精度与场景通用性，是光学、半导体、新材料行业标准化光谱检测核心设备。
