柳下技研 YGN-590-MT 是基于 精密机械结构与光学非接触探测 的多维几何参数检测装置，核心用于 MT/MPO 多芯插芯 之复杂几何评价。传统单参数测试仪仅测端面曲率或偏心，而 MT 插芯要求同时控制 12/24/48 孔位各自 apex offset、纤芯相对套筒外圆同心度、孔距精度（Pitch/Focus）、角度（θ 轴 APC 8°±0.3° 等）及端面形状误差，任何单项差均致光纤对准损耗剧增。
YGN-590-MT 采用 气浮主轴（回转误差 < 0.01 µm） 夹持插芯旋转，Z 轴以 激光共焦或干涉显微头 沿端面扫描，X-Y 精密直线台定位各孔位。测量时先以 图像识别或编码索引 定位孔 1 基准，依次自转扫描各孔，软件拟合球面参数（R、Apex X/Y、Offset），并借由高精度线性编码器（分辨率 1 nm）记录 Z 向形貌。对 MT 插芯特别关键的是 孔距与行列偏差——YGN-590-MT 通过亚像素边缘检测算各孔中心距（Pitch 典型 0.25 mm × (n-1)），与理论 CAD 值比对输出 Cpk。
关键参数控制点：
Apex Offset：纤芯中心相对球面顶点的平面偏移，MT 插芯要求 < 0.5 µm（GR-1435），YGN-590-MT 重复精度 ±0.01 µm 可分辨。
同心度（Concentricity）：内孔 φ125 µm 相对外圆 φ2.5 mm 中心偏，影响光纤插入损耗，装置以气浮回转*小径向跳动保证扫描对称。
APC 角度：8° 倾角须控制 ±0.3°，装置通过回转台角分辨率 0.0001° 与 Z 向微分拟合斜面。
曲率半径 R：PC 约 10～25 mm，APC 同，R 过大/过小致接触压力不均，YGN-590-MT 以球面拟合算法（Least Square Sphere Fit）降低局部划痕噪声影响。
数据处理支持 批量自动循环、统计过程控制（SPC）输出及 3D 形貌渲染，满足光模块厂对 MT 插芯供货商之审计要求。与单点接触式测头比，非接触光学法无压痕、速度快（全孔扫描数分钟内）、适应高反光陶瓷/树脂复合端面。
YGN-590-MT 以柳下技研数十年精密气浮与光学检测积淀，成为 MT/MPO 连接器几何合规之金标准设备，与 YGN-590-FAVG（FA/端面综合）、YGN-524SF（紧凑单芯）形成光纤组件全尺寸检测覆盖。
