全新原装Otsuka大塚电子 RETS-100相位差测量装置

Otsuka大塚电子 RETS-100相位差测量装置 

    RETS-100 是日本大塚电子（OTSUKA ELECTRONICS）推出的一款相位差（光学延迟量）测量装置，主要用于检测各类光学薄膜和液晶面板的光学特性。需要注意的是，该型号目前已停产，其后续升级型号为 RETS-100nx。

核心特点

• 高精度与宽测量范围：可测量高达 0 ~ 60,000nm 的相位差。相位差重复精度可达 3σ ≤ 0.08nm。

• 广泛的样品适应性：测量对象可从1mm的光学元件覆盖到第10代的大型基板。

• 丰富的测量项目：可测量相位差的波长分散、慢轴、Rth、3次元折射率等。

• 智能软件与校准：配备轴角度补正功能，可消除样品放置偏差带来的测量误差。

技术规格

测量项目与对象

• 测量项目：

  • 液晶Cell：Cell Gap（液晶层间隙）、Twist角（扭曲角）、Rubbing角（配向角）、Pretilt角（预倾角）等。

  • 光学材料：相位差的波长分散、光学轴（慢轴）、椭圆率/方位角、三维折射率/Rth等。

  • 偏光片：吸收轴、偏光度、消光比等。

• 测量对象：

  • 液晶Cell：透过型、半透过型、反射型液晶Cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB等）。

  • 光学材料：相位差膜、椭圆偏光膜、偏光膜、液晶材料等。