WPA‑200 二维双折射 / 残余应力测量系统

：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）

WPA‑200 为 WPA 系列标准台式基础机型，面向高相位差、高残余应力透明材料；采用光子晶体偏振成像传感器 + 三波长解包裹技术；非接触无损全视场面测量，2‑5 秒输出完整应力云图；主打实验室研发、小样品质评估；同系列衍生大台面 WPA‑200‑L、大台面 WPA‑200‑XL

核心原理

搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器等运动部件；采用523 nm / 543 nm / 575 nm 三波长测量，解决高相位差相位缠绕问题，实现宽量程大位相差检测；输出相位差、光轴角度，选配数据处理选件换算等效应力 MPa

关键技术参数

项目	参数
测量波长	523 nm、543 nm、575 nm（三波长）
相位差量程	0‑3500 nm；选配高相位差选件*可达 10000 nm
传感器像素	384 × 288（约 11 万像素）
标准视场	27×36 mm ~ 100×133 mm；选配变焦镜头缩小至 3.0×4.0 mm 微区观测
重复精度	相位差 σ 10 nm
测量时间	2‑5 s / 全视场
输出	相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配）
软件	WPA‑View；云图、线剖面、ROI 统计、CSV 导出
接口	GigE；电源 AC100‑240V 50‑60Hz
整机重量	约 13 kg；尺寸 270×337× * 631 mm

✨主要特点

宽量程适配高双折射样品：专门针对树脂、厚塑胶等高相位差工件，普通单波长设备无法覆盖该量程；
全视场一次成像，无需逐点扫描，测量速度快；
无运动光学部件，设备稳定性好、维护简单；
软件可生成二维应力云图，直观观察注塑应力、冷却应力分布；
可扩展变焦镜头、应力换算、远程 API 等选件。

🎯典型应用样品

✅COP、PC、PMMA 注塑件、厚光学树脂、导光板；✅光学薄膜、挤出板材、VR/AR 树脂光学元件；✅评估注塑残余应力、脱模应力、成型工艺带来的应力分布。

⚠️选型提示：低相位差玻璃、晶圆、蓝宝石等基材优先选用 PA 系列；WPA‑200 后续升级型号为 WPA‑300，传感器分辨率提升 5 倍，更适合工业质控场景。

🧩可选配件

变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、遮光罩、高相位差扩展套件、远程控制 API 接口

Photonic‑Lattice采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应
负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵099⁸ （林经理）
公司网站：www.shashinkagaku.com
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学