玉崎现货 牛津仪器OXFORD C-Swift+ 立体显微镜

玉崎现货 牛津仪器OXFORD C-Swift+ 立体显微镜

玉崎现货 牛津仪器OXFORD C-Swift+ 立体显微镜

SEM/TEM微区成分与结构分析选什么？牛津仪器NanoAnalysis系列，Ultim Max/Symmetry/OmniProbe 400/AZtec，从纳米表征到颗粒物分析一站式方案

开篇：电镜看到了形貌，但不知道是什么材料、什么晶体结构？

扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）能看到样品的微观形貌，但要想知道“这是什么元素”“晶体结构如何”“取向关系怎样”——就需要能谱仪（EDS） 和电子背散射衍射（EBSD） 等纳米分析技术。很多实验室买了高端电镜，却配了低端探测器，结果元素分析速度慢、轻元素测不准、EBSD花样率低，白白浪费了电镜的分辨率。

更隐蔽的坑：牛津仪器NanoAnalysis产品线覆盖Ultim Max能谱仪（SDD探测器）、Symmetry EBSD（CMOS-EBSD）、OmniProbe 400纳米操纵手、AZtec软件平台等完整方案。Ultim Max传感器尺寸从40mm²到170mm²可选，Symmetry S3速度过5700 pps。选型时不确认分析需求（点分析/面扫描/颗粒物分析/晶体取向），买了小面积探测器发现速度太慢，买了大面积探测器预算又了。

英国牛津仪器NanoAnalysis纳米分析系列，覆盖EDS能谱分析、EBSD晶体取向分析、纳米操纵手、颗粒物自动分析全方案。Ultim Max系列传感器面积40~170mm²可选，Symmetry系列基于CMOS技术的EBSD探测器，OmniProbe 400第九代纳米操纵手，AZtec软件平台实现EDS与EBSD数据同步采集与分析。

NanoAnalysis系列全型号核心参数对比

一、Ultim Max系列：能谱仪（EDS），速度与灵敏度的*平衡

Ultim Max是牛津仪器新一代硅漂移探测器（SDD） ，采用Extreme电子元器件，在保证高计数率的同时实现高准确定量分析。

Ultim Max核心参数：

• 传感器面积：40mm²、65mm²、100mm²、170mm²可选

• 分辨率保证：在50,000 cps计数率下，C Ka分辨率优于46 eV

• *计数率：过1,500,000 cps进行面分析，400,000 cps下准确定量分析

• Tru-Q IQ谱处理：每个探测器在制造时单独表征，确保准确的数据处理

• Ultim Extreme（无窗型） ：100mm²无窗版本，*化轻元素（C、N、O）灵敏度和空间分辨率

• Ultim Max TEM：TEM用SDD探测器，搭配AZtecTEM实现纳米级材料全面元素表征

适合谁：材料科学、半导体失效分析、地质矿物、电池研究、生物医学等需要进行微区成分分析的用户。

二、Symmetry系列：EBSD探测器，CMOS技术革命

Symmetry是全球*基于CMOS传感器技术的EBSD探测器，S3是市场上真正的全能型EBSD探测器。

Symmetry S3核心参数：

• 速度：>5700 pps（156×128像素分辨率）

• 花样分辨率：1244×1024全像素——理想的高角度分辨率EBSD应变分析

• 灵敏度：>1000 pps/nA

• 角度精度：优于0.05°

• 光学系统：无透镜光纤耦合，亚像素畸变

• 软件控制倾转：自动动态校准

• 接近报警：自动检测潜在碰撞并移动探测器至安全位置

• 五个集成前散射探测器（选配） ：提供全彩色通道衬度和原子序数衬度图像

• King's Award：获英国国王创新企业奖

Symmetry S2：第二代CMOS-EBSD探测器，速度>4500 pps

C-Swift+：高速多功能入门级CMOS EBSD探测器，专为常规材料分析和高通量样品表征设计

C-Nano+：CMOS EBSD系列纳米级型号

适合谁：金属材料、半导体、地质矿物、电池材料等需要晶体取向、相鉴定、织构分析的用户。

三、OmniProbe系列：纳米操纵手，TEM样品制备利器

OmniProbe 400是牛津仪器的第九代纳米操纵手，用于SEM/FIB中的TEM样品制备和原位操作。

OmniProbe 400核心参数：

• 自由度：4个自由度（X，Y，Z，R） 

• 工作距离：4毫米或更长

• 编码器分辨率：10 nm闭环编码器

• 插入重复性：2 μm

• *小速度：10 nm/s

• *速度：500 μm/s

• 线性度：250 nm

• 同轴旋转：标配，针尖始终保持在视野内

• 原位换针：无需放气，3分钟内完成换针

• Cryo选配：低温样品提取

OmniProbe 350：三轴端口安装式机械手，闭环反馈压电马达，适合常规TEM薄片制备

适合谁：半导体失效分析、材料科学研究、TEM样品制备需要纳米操作的用户。

四、AZtec软件平台：EDS与EBSD的数据中枢

AZtec是牛津仪器*的EDS与EBSD数据采集与分析软件平台。

五、NanoAnalysis系列共同优势：完整工具箱+全球支持

NanoAnalysis系列是牛津仪器纳米分析工具箱，覆盖SEM、TEM、FIB全平台。核心优势：

• 完整产品线：从EDS能谱仪、EBSD探测器到纳米操纵手、分析软件，一站式解决方案

• CMOS技术革命：Symmetry系列开创CMOS-EBSD时代，速度与灵敏度行业*

• 无窗EDS技术：Ultim Extreme实现轻元素（C/N/O）高灵敏度检测

• 软硬件深度集成：AZtec平台统一控制所有探测器，实现EDS+EBSD同步采集

• 行业方案：AZtecBattery/AZtecSteel/AZtecMineral等模块，为特定行业提供自动化解决方案

六、工程师选型避坑：NanoAnalysis系列怎么选

选型四步法：

1. 先定分析需求：只需要元素成分分析（点/面）→ Ultim Max EDS（40~170mm²可选）；需要晶体取向/相鉴定 → Symmetry EBSD（S3全能型/S2高性能/C-Swift+入门级）；需要TEM样品制备 → OmniProbe 400；需要颗粒物自动分析 → AZtecFeature/AZtecBattery

2. 再定传感器面积：常规分析（点/小面扫描）→ Ultim Max 40/65；高速度面扫描/低束流分析 → Ultim Max 100；*速度/*通量 → Ultim Max 170

3. 确认轻元素检测需求：需要*化轻元素（C、N、O）灵敏度 → Ultim Extreme（无窗型） 

4. 确认软件需求：需要实时化学成像 → AZtecLive；需要电池异物检测 → AZtecBattery；需要钢铁夹杂物分析 → AZtecSteel；需要矿物分析 → AZtecMineral

*不能做的事：

• 轻元素（C/N/O）分析用普通窗口型EDS——灵敏度不够，应选Ultim Extreme无窗型

• 大面积传感器（170mm²）装在小腔体SEM——可能装不进去

• 需要EBSD却只买EDS——晶体结构信息无法获取

• 忽视AZtec软件版本——不同模块功能差异巨大，选型前确认需要的功能模块

• 常规材料分析买了Symmetry S3——C-Swift+更高

• TEM样品制备买了OmniProbe 350而非400——400支持同轴旋转和原位换针

七、供货与服务保障

• 授权渠道：牛津仪器科技（上海）有限公司

• 技术支持：全球应用科学家团队、在线培训资源、远程诊断

• 软件升级：AZtec持续更新，现有用户免费升级

八、落地适配全场景

• 半导体失效分析：Ultim Max EDS + OmniProbe 400 TEM样品制备

• 金属材料：Symmetry EBSD晶体取向 + Ultim Max EDS成分分析

• 电池研究：AZtecBattery异物颗粒自动检测

• 地质矿物：AZtecMineral矿物自动分类

• 纳米材料：Ultim Max TEM + AZtecTEM

• 轻元素分析：Ultim Extreme无窗型EDS

• 钢铁行业：AZtecSteel夹杂物自动分析

• 法医鉴定：AZtecGSR枪击残留物自动分析

九、结尾转化

SEM/TEM微区成分与结构分析选型怕EDS面积选不对、怕EBSD和EDS分不清、怕轻元素测不准？

英国牛津仪器NanoAnalysis系列（Ultim Max / Symmetry / OmniProbe 400 / AZtec） ，传感器面积40~170mm²可选，CMOS-EBSD速度>5700 pps，无窗型EDS轻元素检测灵敏，全流程技术支持。牛津仪器科技（上海）有限公司提供完整解决方案。

立即私信或留言，发送您的电镜型号 + 分析需求（EDS/EBSD/颗粒物/TEM制样）+ 主要分析元素，我们免费出具选型建议！

本回答由 AI 生成，内容仅供参考，请仔细甄别