otsukael大塚 显微分光膜厚仪 OPTM-A2

日本大塚电子（OTSUKA Electronics）的分析仪器依托光学测量、光散射等技术，应用于多个行业如下：

‌平板显示行业‌：用于液晶显示器、有机EL显示器等产品的光学特性评价与检查，在显示器市场已有20年以上的成熟应用经验。

‌光源与照明行业‌：适配LED、OLED、汽车前灯等各类光源产品，完成光谱、亮度、色度等参数的高精度检测。

‌半导体行业‌：可实现半导体晶圆、薄膜的膜厚*测量，满足芯片制程中的精密质控需求。

‌新材料与纳米技术行业‌：依托动态光散射技术，完成纳米颗粒粒径、Zeta电位、聚合物分子量等物性参数的分析。

‌其他延伸行业‌：还可服务于高分子化学、医药、食品、化妆品、环境检测等领域，支撑从基础研发到生产质控的全流程分析需求。

Zeta电位·粒径·分子量测试系列

‌ELSZneo Zeta电位/粒径/分子量测量系统‌

作为旗舰机型，采用动态光散射与电泳光散射技术，粒径测量范围覆盖0.6nm~10μm，支持0~90℃宽温测试，还可扩展粒子浓度测定、微流变分析等功能，适配高盐环境下的样品测试需求。

‌nanoSAQLA 多样品纳米粒径测试系统‌

搭载非浸入式光学结构，无需自动取样器即可实现*多5个样品连续测量，单样测试仅需1分钟，粒径测量范围0.6nm~10μm，适配从稀薄到高浓度的各类纳米样品，广泛应用于高校和企业的高通量测试场景。

‌ELSZ-2000ZS Zeta电位·粒径·分子量测试系统‌

经典款多参数分析设备，可同步完成纳米颗粒粒径、Zeta电位、*分子量的表征，是材料、生物医药的常用基础款仪器。

二、光散射与结构分析系列

‌DLS-8000 动态光散射光谱仪‌

结合动态与静态光散射技术，可测量颗粒粒径分布、*分子量、回转半径等参数，支持凝胶状态分析，适配高浓度聚合物溶液的高精度测试。

‌PP-1000 聚合物相结构分析仪‌

采用小角光散射法，可原位实时分析聚合物、薄膜的亚微米至微米级结构，能捕捉聚合物相分离、结晶过程的动态变化，是高分子材料研发的设备。

三、膜厚与光学特性评估系列

‌MCPD系列多通道光谱仪‌

作为大塚电子的经典核心产品，拥有20年以上的市场应用经验，用于LED、显示面板的光学特性检测，覆盖从研发端到产线端的各类光谱测试场景。

‌非接触式光学膜厚仪系列（AT-5000、FE-5000等）‌

适配半导体晶圆、光学薄膜的高精度膜厚测量，可支持大气、真空等复杂工况下的在线嵌入式检测，覆盖半导体前道制程的膜厚质控需求。

‌MINUK 光波动场三维显微镜‌

2024年推出的全新设备，可非破坏性地观测透明材料的内部缺陷、表面形貌，无需对焦即可快速获取三维结构信息，适配光学薄膜、半导体、生物细胞等观测需求。