日本Otsuka大塚电子 RE-200高速相位差测量装置

Otsuka大塚电子 RE-200高速相位差测量装置

    RE-200 是日本大塚电子（OTSUKA ELECTRONICS）推出的一款高速相位差测量装置。它*核心的优势是能以世界*的速度（0.1秒内），高精度地测量光学薄膜等材料的低相位差（残留相位差） 和光学轴方向。

这款设备非常适合研发阶段的材料特性分析，以及生产线上的高效质量控制。

工作原理与技术特点

不同于传统需要旋转偏振片的机械式测量，RE-200采用了无驱动部的设计：

• 核心技术：它由光子晶体元件（偏振元件） 和 CCD相机 构成偏振测量模块。

• 单次成像：CCD相机通过一次快门即可获取全部的偏振强度模式。

• 优势：因为没有机械旋转部件，系统结构更小巧，同时重复再现性高，并且能保证长时间使用的稳定性。

技术规格

测量项目与应用

RE-200能够测量的关键光学参数包括：

• 相位差 (Re [nm])

• 主轴方位角 (θ [deg])

• 椭圆率 (ε) 与 方位角 (γ)

• 三维折射率 (Nx, Ny, Nz)

主要应用于以下材料和场景：

• 光学薄膜：如相位差膜、偏光膜、椭圆偏光膜、视野角改善膜等。

• 透明材料：如树脂、玻璃等，用于分析其内部残留应力、变形或歪曲。

• 产线检测：得益于其高速特性，也适用于生产线上的在线（In Line） 实时监控。