供货 JEOL日本电子 inVia系列 显微拉曼光谱系统

来源:山金工业(深圳)有限公司
发布时间:2026-09-16 14:14:51

规格和选项

模型 经由反射街 通过反射
光谱仪 单单色仪,焦距 250 毫米,光圈 f/4
可配备的激光波长 常规:可选波长 532、633、785nm(可安装多个)
可选波长:229、244、266、325、364、442、488、514、830、1064nm
*通常*多可安装 3 个(选配可安装 4 个以上)
激光功率调节 16步切换(电脑控制)
*波数分辨率 标准:1厘米-1,可选:0.3厘米-1
光度拉曼位移波数范围
(使用标准边缘滤波器时)
100–4000 cm⁻¹(532 nm、633 nm 激发),100–3200 cm⁻¹(785 nm 激发)
检测器
(通道数)
电子冷却式
高灵敏度大尺寸CCD图像传感器
(1024 x 256)
电子冷却式
高灵敏度CCD图像传感器
(576 x 386)
显微镜物镜 ×5、×20、×50、×50(长工作距离型)、×100 ×5、×20、×50
显微镜载物台 XYZ 三轴电动平台
(可进行 PC 控制/轨迹球操作,也可进行手动操作)
手动舞台
样本观测 使用目镜进行视觉观察(配备安全机制,可在观察期间阻挡激光);
内置摄像头 + PC 捕获功能,用于显示器显示;
自动对焦;
通过在 PC 捕获图像上单击鼠标来将目标区域居中;
通过相邻视场图像的马赛克合成(蒙太奇)自动获取广角图像。
使用目镜进行视觉观察(配备安全机制,可在观察期间阻挡激光);
通过内置摄像头+PC捕获功能进行显示器显示。
地图分析、深度方向分析 点测绘(线分析、面分析)
XY测绘 测量范围:约112 x 76 mm(*)
深度剖析(深度方向分析)
用于图像构建的信息:峰值强度、位置、半峰全宽、强度比、任意波数下的信号强度、多元分析得到的分量信号等。
三维测绘:可选
-
高速
拉曼成像测量功能
标准配置 选项 -

主要选项

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪器仪表交易网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

上一篇: 直销 JEOL日本电子 JSX-...
下一篇: 山金现货 JEOL日本电子 GC...

推荐资料