原厂Otsuka大塚电子PP-1000 小角激光散射仪

来源：池田屋贸易（深圳）有限公司
发布时间：2026-08-03 19:00:35
PP-1000 是大塚电子推出的台式小角激光散射（SALS）聚合物相结构分析系统，依托可见光小角激光散射成像原理，实现高分子、薄膜、凝胶、乳液材料微观相结构原位、动态、无损实时表征。对比小角 X 射线散射（SAXS）、小角中子散射（SANS）设备，该机型适配微米级大尺度结构检测，依靠偏振散射模式区分结晶结构与共混相分离结构，可搭配冷热台、拉伸台、UV 固化单元模拟加工工况，全程记录熔融、结晶、相分离、固化、拉伸取向的瞬时结构演变，广泛用于高分子新材料研发、薄膜工艺质控、树脂固化机理研究等行业实验室场景。

检测原理

785nm 一级安全激光入射样品，样品内部结晶、相分离、颗粒团聚形成折射率起伏，产生不同角度激光散射图案；搭载高速 CMOS 探测器采集散射光斑图像，通过两种偏振模式解析结构：
  1. Hv 偏振散射：起偏器与检偏器正交配置，解析高分子球晶尺寸、结晶取向、光学各向异性、结晶生长速率；
  2. Vv 偏振散射：起偏器与检偏器平行配置，测算共混聚合物相分离关联长度、填料分散性、凝胶交联网络尺寸。
    软件可直接由散射环角度换算微观结构尺寸，支持连续录像记录动态结构变化，无需切片、染色等复杂样品前处理。
原厂Otsuka大塚电子PP-1000 小角激光散射仪 image
光学系统原理图

三、核心硬件规格参数


参数项目 PP-1000 标准参数
激光光源 785nm Class1 半导体激光，光斑约 1mm
散射角度覆盖 0.33°～45° 全域散射采集
*短成像速度 10ms / 帧（关闭 HDR），支持高速连续摄像
结构解析尺度 球晶：1.3～175μm；相分离关联长度：0.1～100μm
偏振模式切换 Hv/Vv 软件一键切换，无需手动拆装偏振器件
动态成像范围 120dB（开启 HDR 高动态模式）
样品适配形态 固态薄膜、高分子溶液、水凝胶、乳液、熔融树脂（选配密封液体样品池）
机身形态 台式一体化遮光腔体，桌面直接摆放
核心输出数据 球晶直径、结晶速率、相分离相关距离、取向度、颗粒团聚粒径

四、产品核心优势

  1. 毫秒级动态抓拍，捕捉瞬时相变
    10ms 高速成像，完整记录熔融淬火快速结晶、高分子猝冷相分离、UV 瞬时固化等短时结构变化，长时间序列录像留存全过程数据，弥补偏光显微镜逐帧拍摄速度不足的短板。
  2. 双偏振模式一体化集成
    单台设备同时完成结晶特性、共混相分离两类核心测试，软件一键切换 Hv/Vv 模式，减少样品重复制备、设备换样时间，提升实验效率。
  3. 固液样品通用适配
    标配薄膜样品台，选配密封液池即可测试高分子溶液、水凝胶、乳胶体系，适配本体树脂、溶液加工材料全体系表征。
  4. 无辐射低运维成本
    采用可见光激光，无 X 射线电离辐射，无需辐射防护设施；封闭式光路结构稳定，长期使用校准频次低，运维门槛低。
  5. 工况原位拓展能力强
    可外接冷热台、单向拉伸台、紫外照射单元，模拟高低温加工、双向拉伸、UV 固化实际生产条件，还原加工过程微观结构演变规律，直接指导挤出、流延、固化工艺优化。

五、各行业细分应用场景

高分子薄膜行业

PVDF、PP、PET 结晶薄膜球晶尺寸、结晶温度、结晶生长速率测定；流延膜、双向拉伸膜取向度、横向纵向结晶均匀性评价；薄膜雾度、光学各向异性溯源分析。

聚合物共混改性行业

PP/PE、PLA/PBAT 等合金材料相分离演化、填料分散均匀性检测，计算相区关联长度，判断相容剂改性效果。

树脂固化行业

环氧树脂热固化、UV 光固化树脂交联进程监测，通过散射结构变化判定固化终点、交联网络成型速率。
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