WPA‑300 二维双折射 / 残余应力测量系统Photonic‑Lattice玉崎科学仪器原装现货

WPA‑300 二维双折射 / 残余应力测量系统

：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）

WPA‑300 是 WPA‑200 系列新一代升级主力台式机型；完整继承 WPA‑200 三波长大位相差测量能力，偏振传感器分辨率提升 5 倍，可同时捕捉高相位差本体应力与局部微小应力集中；面向工业品质管控、研发分析；衍生大载台版本 WPA‑300‑L。

搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523 nm / 543 nm / 575 nm 三波长解包裹技术，解决高相位差相位缠绕；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件换算等效应力 MPa。

项目	参数
测量波长	523 nm、543 nm、575 nm（三波长）
相位差量程	0‑3500 nm；选配高相位差选件*可达 10000 nm
传感器像素	848 × 680（约 57 万像素，相对 WPA‑200 提升 5 倍）
标准镜头视场	36×45 mm ～ 100×133 mm；选配变焦镜头：12×15 mm～32×40 mm 微区观测
重复精度	相位差 σ 10 nm
测量时间	2‑5 s / 全视场
输出	相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配数据处理功能）
软件	WPA‑View；云图、线剖面、ROI 统计、色散模式、CSV 导出、远程 API 接口
整机尺寸 (W×D×H)	270 × 380 × * 624 mm
整机重量	约 15 kg
接口	GigE；电源 AC100‑240V 50‑60Hz

WPA‑300‑L：大样品台版本，*样品 240×320 mm，光学性能与 WPA‑300 保持一致。

分辨率大幅提升：相比 WPA‑200，传感器分辨率提升 5 倍；既能测几千 nm 大相位差，又可捕捉注塑件局部细小应力集中、微小应力梯度，适合工业质控定量判定.。
保留三波长宽量程优势，适配 COP、PC 等高双折射树脂材料。
全视场快照式成像，无需逐点扫描；无运动光学部件，设备稳定、维护量低。
支持变焦镜头，兼顾大面积全域检测与局部微区应力观察。
软件具备色散模式、实时分析、远程控制 API，便于对接自动化流程。

✅COP、PC、PMMA 注塑件、厚光学树脂、导光板；✅光学薄膜、挤出板材、VR/AR 树脂光学元件；✅工业场景：注塑工艺评估、量产件品质检查，识别局部应力集中缺陷。

⚠️选型提示

变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、高相位差扩展套件、遮光罩、视场校正功能、远程控制 API 接口、光弹性系数测量模块

采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应
负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵099⁸ （林经理）
公司网站：www.shashinkagaku.com
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

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