CSK-IIA试块是依据承压设备I型焊接接头超声检测要求而设计的试块,符合NB/T 47013.3-2015标准。相关信息如下:
用途:适用于斜探头、直探头检测工件厚度范围为6mm~200mm的I型焊接接头,主要用于测定横波距离-波幅曲线(DAC曲线)、斜探头的K值和调整横波扫描速度和灵敏度等。
分类:包括CSK-IIA-1、CSK-IIA-2、CSK-IIA-3三种试块,不同试块适用的检测范围不同。CSK-IIA-1适用于检测厚度大于等于6mm至40mm的工件;CSK-IIA-2适用于检测厚度大于40mm至100mm的工件;CSK-IIA-3适用于检测厚度大于40mm至200mm的工件。
材料:选用电炉或平炉熔炼的碳素结构钢,成分符合GB/T 699的要求,晶粒度7~8级。
在使用CSK-IIA试块时,需根据具体的检测要求和工件厚度选择合适的试块,并按照相关标准和操作规程进行操作,以确保检测结果的准确性和可靠性。
CSK - IIA试块在超声检测中用于测定横波距离 - 波幅曲线、斜探头的K值以及调整横波扫描速度和灵敏度等。以下是其使用方法和注意事项:
使用方法
测定斜探头K值:将斜探头置于试块上,使声束轴线对准试块上的特定反射体(如φ40mm、φ44mm、φ50mm的横孔),通过测量反射波的位置和相关参数,计算出斜探头的K值(K = tanβ,β为折射角)。一般来说,可将探头在试块上移动,找到横孔反射波*的位置,此时根据仪器上显示的声程和探头的前沿距离等数据,结合三角函数关系计算K值。
调整横波扫描速度:利用试块上的不同深度的反射体,如CSK - IIA - 1试块上的φ1×6横孔等,通过调整仪器的扫描参数,使反射波在荧光屏上的显示位置与试块实际尺寸相对应,从而实现横波扫描速度的调整。例如,使试块上某一深度的横孔反射波出现在荧光屏上的特定刻度位置,以此来校准扫描速度,确保后续检测中对缺陷位置的准确测量。
绘制距离 - 波幅曲线(DAC曲线):在试块上选取多个不同深度和距离的反射体,如CSK - IIA试块系列中的不同规格试块上的横孔,分别测量这些反射体的反射波幅度,并记录其对应的距离和波幅数据。然后,将这些数据绘制在坐标纸上,形成距离 - 波幅曲线。该曲线用于在实际检测中根据缺陷反射波的幅度和距离来评定缺陷的大小和严重程度。
注意事项
试块的选择:根据被检测工件的厚度,正确选择CSK - IIA试块的具体型号。如检测厚度大于等于6mm至40mm的工件应选择CSK - IIA - 1试块,以确保试块的尺寸和反射体分布能满足检测要求,保证检测结果的准确性。
表面清洁与耦合:使用前要确保试块表面清洁,无油污、铁锈、灰尘等杂质,否则会影响探头与试块之间的声耦合效果,导致检测信号不准确。在检测时,需涂抹适量的耦合剂(如凡士林、机油等),以减少探头与试块表面之间的空气间隙,提高声能传递效率。
探头操作:放置探头时要注意保持探头与试块表面垂直,且移动探头时应平稳、缓慢,避免探头跳动或倾斜,以保证声束方向的稳定性和检测结果的重复性。同时,要根据试块的形状和尺寸,合理选择探头的移动方式和路径,确保能够全面检测试块上的反射体。
仪器参数设置:在使用试块进行检测前,需根据试块的特性和检测要求,正确设置探伤仪的各项参数,如检测范围、增益、衰减等。参数设置不当可能导致反射波幅度不准确,影响K值测定、扫描速度调整和DAC曲线绘制的准确性。
试块的维护:使用后要及时清洁试块,并妥善保管,防止试块表面划伤、生锈或损坏。定期对试块进行检查,如有磨损、变形等情况,应及时更换或修复,以保证试块的精度和可靠性。
物理特性EPOCH 650型仪器是一款轻重量、易携带的探伤仪,坚固耐用、灵活变通,几乎适用于任何检测应用。其主要物理特性如下:
标准套装
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| 仪器的输入/输出 | USB端口 | USB(OTG)端口 |
|---|---|---|
| RS-232端口 | 有 | |
| 视频输出 | 标准VGA输出 | |
| 1个模拟输出(可选),可选的1 V/10 V全标度,*4 mA | ||
| 报警输出 | 3个报警输出,5V TTL,10 mA | |
| 触发器I/O |
触发器输入为5V TTL; 触发器输出为5V TTL,*10 mA |
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| 编码器输入 | 单轴编码器线(正交,仅适用于腐蚀模块模式) | |
| 环境评级 | IP评级 |
根据IEC 60529-2004标准(外壳防护等级– IP规范),带有浏览键区的仪器设计符合IP67侵入保护评级标准,带有飞梭旋钮的仪器设计符合IP66侵入保护评级标准。 在新开发的产品正式投入生产以前,奥林巴斯要对产品的设计进行内部检验。这款仪器经测试证明符合IP评级标准。 |
| 爆炸性气氛 |
通过美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试,可在*防火协会规范(NFPA 70)500节I级2分段D组中定义的爆炸性气氛中安全操作。 |
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| 撞击测试 |
通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试,每个轴6个循环,15g,11 ms半弦波。 |
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| 振动测试 |
通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。 |
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| 操作温度 |
–10°C ~ 50°C |
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| 电池存储温度 |
0°C ~ 50°C |
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| 一般规格 | 体尺寸(宽 × 高 × 厚) | 236 mm × 167 mm × 70 mm |
| 重量 | 1.6公斤,包括锂离子电池 | |
| 键区 | 英文、国际符号、日文、中文 | |
| 语言 | 英语、西班牙语、法语、德语、日语、中文、葡萄牙语和俄语 | |
| 探头连接 | BNC接口或 LEMO接口 | |
| 数据存储 | 机载100000个ID编码,可插拔2 GB microSD卡(标准) | |
| 电池类型 | 单个标准充电锂离子电池 | |
| 电池供电时间 | 15到16小时(锂离子) | |
| 电源要求 | AC主电源:100 VAC ~ 120 VAC、200 VAC ~ 240 VAC,50 Hz ~ 60 Hz | |
| 显示器类型 | 全VGA(640 × 480像素)透反彩色LCD,60 Hz更新速率 | |
| 显示屏尺寸(宽 × 高,对角线) | 117 mm × 89 mm,146 mm(5.76 in.) | |
| 脉冲发生器 | 脉冲发生器 | 可调方波 |
| 脉冲重复频率(PRF) | 10 Hz ~ 2000 Hz,增量为10 Hz | |
| 能量设置 | 100 V、200 V、300 V或400 V | |
| 脉冲宽度 | 25 ns ~ 5000 ns(0.1 MHz)范围内可调,利用PerfectSquare技术 | |
| 阻尼 | 50、100、200、400 Ω | |
| 接收器 | 增益 | 0 ~ 110 dB |
| *输入信号 | 20 V p-p | |
| 接收器输入阻抗 | 400 Ω ± 5% | |
| 接收器带宽 | 0.2 MHz ~ 26.5 MHz,–3 dB | |
| 数字式滤波器设置 |
30个标准数字式滤波器设置 7个符合ISO-22232:2010标准的滤波设置(0.2-10 MHz、2.0-21.5 MHz、8.0-26.5 MHz、0.5-4 MHz、0.2-1.2 MHz、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz) |
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| 检波 | 全波、正半波、负半波、射频波 | |
| 系统线性 | 水平:±0.5% FSW(满屏宽) | |
| 分辨率 | 0.25%满屏高,放大器精度为±1 dB | |
| 抑制 | 0 ~ 80%满屏高,带有可视警告 | |
| 波幅测量 | 0 ~ 110%满屏高,分辨率为0.25% | |
| 测量速率 | 在所有模式下,相当于脉冲重复频率(PRF) | |
| 校准 | 自动校准 |
声速,零位偏移 垂直声束(*个底面回波,或回波到回波) 角度声束(声程或者深度) |
| 检测模式 | 脉冲回波、一发一收或穿透 | |
| 单位 | 毫米、英寸或微秒 | |
| 范围 | 3.36 mm ~ 13388 m,5900 m/s | |
| 声速 | 635 m/s ~ 15240 m/s | |
| 零位偏移 | 0 µs ~ 750 µs | |
| 显示延迟 | -59 mm ~ 13401 mm, 在钢中纵波声速下 | |
| 折射角度 | 0° ~ 90°,增量为0.1° | |
| 闸门 | 测量闸门 | 2个完全独立的闸门,用于波幅和渡越时间(TOF)的测量 |
| 闸门起始 | 在整个显示范围内可变 | |
| 闸门宽度 | 在从闸门起点到显示范围的终点之间的区域内可变 | |
| 闸门高度 | 在2% ~ 95%满屏高范围内可变 | |
| 报警 | 正阈值和负阈值,*小深度(闸门1和闸门2) | |
| 测量 | 测量显示位置 | 5个位置(手动或自动选择) |
| 闸门(1和2) | 厚度、声程、投射、深度、波幅、渡越时间、*小/*深度、*小/*波幅 | |
| 回波到回波 | 标准闸门2到闸门1,可选界面闸门跟踪 | |
| 其他测量 | DGS/AVG的上冲值(dB)、DGS/AVG的ERS(等效反射体大小)、AWS D1.1/D1.5的A、B、C和D值、抑制值、回波到参考dB值 | |
| DAC/TCG | 标准 | |
| DAC点 | 多达50个点,110 dB动态范围 | |
| 特殊DAC模式 | 自定义DAC(*多6条曲线),20-80%视图 | |
| 曲面校正 | 用于角度声束测量的标准外径或棒材校正 | |
| 腐蚀(可选) | 交叉零点测量算法、V声程校正、单一回波、回波到回波、编码B扫描 |
如果您在爆炸性环境中工作,那么您可以使用EPOCH 650 Ex探伤仪,因为这款探伤仪符合《防爆指令》中的要求。要了解更多信息,请阅读有关《防爆指令》的常见问题解答。
• EP650-TEMPLATE (Q1400002):模板存储
• EP650-API5UE (Q1400003):API 5UE缺陷定量
• EP650-AVERAGE (Q1400004):波形平均
• EP650-IG (Q1400005):界面闸门
• EP650-BEA (Q1400006):底面回波衰减器(BEA)
• EP650-CORRSN (Q1400001):腐蚀模块(包含编码B扫描)
• 600-BAT-L-2 (U8760058):充电锂离子电池
• EP4/CH (U8140055):胸挂带
• 600-TC (U8780294):运输箱
• CBAS-10668-0060 (Q7790012):RS232通信线
• DSUB-HD15-6 (U8780333):数字输出线
• 600-C-VGA-5 (U8780298):VGA输出线
• MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB microSD存储卡
• 600-SC-K (U8780334):软便携袋(飞梭旋钮机型)
• 600-SC-N (U8779879):软便携袋(浏览键区机型)
• N600-EXTALM (U8780332):外置报警蜂鸣器
• CBAS-10669-0010 (Q7790008):B扫描小车形编码器电缆(10英尺,还可提供其他长度的电缆)
