CMX2-DL黑白屏多层厚度测厚仪
来源：京海兴乐科技（北京）有限公司
发布时间：2026-01-23 09:35:55
CMX2-DL黑白屏多层厚度测厚仪
CMX2/3-DL多层厚度测厚仪
CMX2/3-DL测厚仪不仅有MX2-DL的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。
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多种测量方式
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显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示）
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增益可调节：低、低、中、高、高
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增益值可到110dB
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自动增益控制（AGC）
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时间增益校正（TDG）
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探头自动识别，自动调零和温度补偿
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*值、*小值显示
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可存储64个用户参数设置
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高速扫查（50次/秒）
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高达250HZ的脉冲重复频率
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B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
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A扫描波形显示和RF显示
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差值测量模式
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高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值
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上/下限声光报警功能
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数据存贮：内置4GB SD存储卡
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可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
外形尺寸
63.5x165x31.5mm
重量
380g（包括电池） 全金属外壳
CMX2-DL（黑白屏）
分辨率: 240X160像素 显示面积：62X45.7mm
CMX3-DL（彩色屏）
分辨率: 320X240像素 显示面积：43.2X57.6mm
显示模式
全波、正/负半波、数字式或分屏组合式显示（波形+数字）、A扫描横屏/竖屏可选（仅CMX3-DL)
工作温度
-10～60℃
测量范围
界面波-底波(P-E)方式： 0.63－1219.2mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－1219.2mm
多层测量(PECT)方式： 0.63－1219.2mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式： 2.54¬—152.4mm（因涂层的不同会有所变化）
三次波穿透涂层测量(E-EV)模式： 2.54¬—102mm（因涂层的不同会有所变化）
仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
数据通信接口
Type-C 接口可和PC电脑连接或者给主机供电
存储格式
表格式（字母、数字编号）或者顺序式（自动编号）
存储能力
4GB内部SD卡存储
屏幕抓取
可存为.tif格式的文件
自定义参数设置
可存储64个参数设置，内置的参数设置用户也可编辑
电池
3节5号干电池供电或者通过USB接口供电
A扫描刷新率
25Hz（黑白屏）/120Hz（彩色屏）
晶振
采用8位100MHz单脉冲低功耗数字转化器的TCXO振荡器
测量门
测量门的起始位置和宽度全屏可调；测量门的高度5%—95%可调（步进值1%）；测量门可以正负触发声、光报警
测量单位
公制 (mm)/英制(in)
声速
309.88～18542m/s
显示分辨率
0.01mm
校准模式
一点/两点校准
探头类型
1MHz-20MHz双晶/单晶探头（接触式、延迟块、笔式）
标准
满足IP65防护标准，符合NIST & MIL-STD-45662A
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