现货Otsuka大塚电子SM-110SO便携式分光干涉膜厚仪

Otsuka大塚电子SM-110SO便携式分光干涉膜厚仪

SM-110SO 是日本大塚电子 (OTSUKA) Smart 系列中的一款手持式、非接触光学膜厚仪。

与同系列的*版 SM-110PO 相比，它是一款专注于单层膜测量的标准版机型，核心优势同样是便携、快速、无损，但更聚焦于满足常规的单层膜厚检测需求。

特点

• 便携现场测量：主机仅重约 350g（不含线缆），可轻松携带至生产线、仓库、甚至无尘车间进行现场检测。

• 非接触无损检测：采用光学方法，无需接触样品，可无损测量立体异形工件。

• 斜角探头：搭载专属的 45° 斜角测量探头，专门针对曲面、窄边框、凹槽、异形光学件等复杂形状样品的膜厚检测。

• 操作简便：操作简单，新手也能快速上手。

• 数据存储：内置内存，可存储 1800组 测量数据，并自带统计分析功能。

详细规格参数

 测量原理

SM-110SO 采用反射分光法（光学干涉法）。它向薄膜表面照射光线，分析从薄膜表面和薄膜与基底界面两处反射回来的光。这两束反射光会发生干涉，形成的反射光谱。通过分析该光谱并结合材料的折射率，即可计算出薄膜的厚度。

应用领域

• 生产现场与来料质检：在产线或仓库直接快速检测光学镀膜、涂层厚度。

• 特殊形状样品：利用其45°斜角探头，专门测量曲面、窄边框、凹槽、异形光学件等。

• 适用薄膜类型：硬化膜、AR（减反射）膜、ITO导电膜、SiO₂氧化膜、各类透明树脂涂层等。