KAMAKIRI 系列｜Photonic‑Lattice 线扫描式离线 / 在线双折射应力检测系统 玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应

：Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）

定位：光学薄膜产线线扫描双折射（位相差）检测设备，打通实验室研发（PA/WPA 台式机）→量产在线质控；将光子晶体偏振传感器 + Photron 高速相机结合，实现走带状态下连续扫描，输出相位差 nm、光轴角度 °、应力分布云图，替代传统人工抽样检测，可实现整卷薄膜 * 全幅全长度检测。软件：KAMAKIRI Live‑Viewer；支持实时画面、OK/NG 判定、缺陷报警、缺陷位置记录、数据存储导出、对接产线 MES 系统。

✨核心技术原理

1. 硬件：内置光子晶体偏振阵列传感器，搭配 Photron 高速线扫描相机，无旋转机械部件；

2. 工作模式：线扫描（Line‑Scan），薄膜走带行进过程中，连续采集横向一整条线偏振数据，拼接生成二维全域双折射分布图；

3. 输出物理量：相位差（Retardation，nm）、光轴主轴角度（0‑180°）；选配数据处理选件换算应力 MPa；

4. 算法统一：X‑Stage 离线机型与 STS‑LS 在线机型使用同一套测量算法；研发阶段离线验证，后期直接升级部署产线，数据可比对，消除研发‑量产设备差异。

📋全系列型号详解

1. KAMAKIRI‑X‑Stage（离线台式线扫描机型）

定位：研发 / 小批量抽检，产线导入前验证入门机型，后期可升级为在线系统..

• 类型：离线台式，样品放置移动平台扫描，不需要接产线走带；

• 标准*样品尺寸：A4 幅面；支持裁切薄膜样片、小片基材检测；

• 测量波长：标准 543 nm，支持定制波长；

• 相位差量程：标准 0‑260 nm；可定制大位相差版本（WPA‑KAMAKIRI，三波长，* 0‑3500nm，选件可达 10000nm）；

• 重复精度：相位差 σ＜1 nm；光轴角度 σ＜1°；

• 软件：KAMAKIRI Live‑Viewer；云图、剖面分析、NG 阈值判定；

  ✅适用场景：实验室研发、来料抽检、配方工艺评估；TAC、COP、PET、PI 光学膜样片；

优势：算法与在线机一致，用小样模拟产线检测效果，规避直接采购昂贵在线设备风险。

2. KAMAKIRI‑MEM‑LS（在线定点条带扫描｜抽样式在线检测）

定位：产线上定点窄幅扫描，替代人工抽样检测

• 安装在薄膜流延 / 拉伸产线上；单相机，只扫描膜幅上 1 条或多条条带；不做全幅检测；

• 产线走带速度*可达 30 m/min；

• 特点：成本低于全幅 STS‑LS；快速监控产线工艺波动；异常实时报警，快速停机减少不良品产出；

  ✅适用：产线初步质控，抽样监控，不要求 * 全覆盖。

3. KAMAKIRI‑STS‑LS（全幅宽全长度在线检测｜量产主力）

定位：整卷薄膜 * 全覆盖在线检测；多相机拼接实现完整幅宽检测.

• 单相机*扫描幅宽约 600 mm；多相机拼接，可定制支持5 米以上宽薄膜产线；

• 走带速度* 30 m/min；

• 测量波长：标准 543 nm；量程 0‑260 nm；

• 输出：实时全幅双折射云图；OK/NG 自动判定；缺陷坐标记录；报警输出对接产线；完整数据日志留存；

  ✅适用：TAC/COP/PVA/PET/PI 光学薄膜量产工厂，整卷产品全检，防止不良流出；显示、偏光片光学膜量产质控。

4. KAMAKIRI‑MEM‑AS（高速面扫描模块）

5. WPA‑KAMAKIRI（大位相差版本 KAMAKIRI）

三波长 523/543/575 nm；相位差量程 0‑3500 nm，选件* 10000 nm；专门针对高双折射厚膜、PET、厚树脂膜；X‑Stage 离线和 STS‑LS 在线均可以选 WPA 光学配置.。

📊KAMAKIRI 系列通用基础参数（标准 543nm 版本）

🎯典型适用样品

⚠️选型区分

• 样品相位差低（0‑260nm）→标准 KAMAKIRI（543nm）

• 厚 PET、高双折射膜，相位差几百‑几千 nm →必须选 WPA‑KAMAKIRI 三波长版本。

🧩原厂可选配件 & 选件

1. WPA 高相位差光学套件：升级三波长，量程 0‑3500nm（* 10000nm）；

2. 数据处理选件：应力 MPa 换算；输入材料光弹系数；

3. 产线对接 API 接口：对接 PLC/MES；报警继电器输出；

4. 多相机扩展模块（STS‑LS），扩展扫描幅宽；

5. NIR 近红外波长定制（红外透光材料）。

KAMAKIRI 选型决策指南