WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统玉崎科学仪器 原装现货供应

来源：玉崎科学仪器（深圳）有限公司
发布时间：2026-09-03 17:09:35

玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统

：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）
WPA‑200‑L 属于 WPA‑200 系列大载台版本；光学测量性能与 WPA‑200 一致，仅放大样品承载平台，用于中‑大尺寸高相位差透明工件；非接触无损全域面测量，2‑5 秒输出完整应力云图。

核心原理

搭载光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用523 nm / 543 nm / 575 nm 三波长解包裹技术，解决高相位差相位缠绕；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件换算等效应力 MPa

关键技术参数

项目 参数
测量波长 523 nm、543 nm、575 nm（三波长）
相位差量程 0‑3500 nm；选配高相位差选件*可达 10000 nm
传感器像素 384 × 288（约 11 万像素）
标准镜头视场 33×44 mm ～ 240×320 mm（*样品 240 × 320 mm）
选配变焦镜头视场 3.0×4.0 mm ～14.2×19.0 mm（局部微区观测）
重复精度 相位差 σ 10 nm
测量时间 2‑5 s / 全视场
输出 相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配）
软件 WPA‑View；云图、线剖面、ROI 统计、CSV 导出
整机尺寸 (W×D×H) 430 × 487 × * 977 mm
整机重量 约 23 kg
接口 GigE；电源 AC100‑240V 50‑60Hz

✨主要特点

  1. 大样品承载能力：相比 WPA‑200 标准型，台面与*测量幅面显著加大，可直接检测大尺寸光学膜、导光板、大尺寸注塑面板，无需裁切样品；

  2. 光学性能继承 WPA‑200 全部能力，擅长高双折射树脂、厚塑胶；

  3. 全视场一次成像，无需逐点扫描，测量速度快；无运动光学部件，维护简单；

  4. 支持变焦镜头，兼顾大样品整体检测与局部微区应力观察；

  5. 可扩展：应力换算选件、高相位差扩展套件、遮光罩、远程 API 接口。

🎯典型应用样品

✅大尺寸导光板、幅宽光学薄膜、COP/PC 大尺寸树脂板材；✅汽车透明注塑面板、VR/AR 大尺寸光学元件；✅评估大面积样品注塑残余应力、冷却应力分布、成型工艺均匀性。
⚠️选型提示

  1. 小尺寸样品选 WPA‑200；接近 A3 幅面选 WPA‑200‑L；接近 500 mm 大样品选 WPA‑200‑XL；

  2. 需要更高传感器分辨率、捕捉微小应力波动，优先升级新一代 WPA‑300‑L；

  3. 低相位差玻璃、晶圆类基材选用 PA 系列。

🧩可选配件

变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、遮光罩、高相位差扩展套件、远程控制 API 接口。


Photonic‑Lattice 采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司  原装现货供应
负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵099⁸ （林经理）
公司网站：www.shashinkagaku.com
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学



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