玉崎现货柳下技研 YGN-524SF 紧凑型检测装置在 LC/MU 微小插芯评价中的应用

来源:深圳京都玉崎电子有限公司
发布时间:2026-07-07 10:10:00

YGN-524SF 继承 YGN-590 系列精密气浮与光学检测基因,但结构紧凑、占地小、成本相对可控,专门针对 LC(φ1.25 mm 插芯)、MU(φ1.25 mm 更小形)、SFF(Small Form Factor)连接器及单芯陶瓷/金属套管 之几何检测设计。

其核心测量能力与 YGN-590 同源:端面曲率 R、apex offset、纤芯偏置、角度(PC/APC)、内孔同心度、表面粗糙度(选配共焦头),但因被测件尺寸小、刚性略低,YGN-524SF 在装夹与扫描范围上做了优化:

在产线应用中,YGN-524SF 常置于IQC 桌面或洁净台内,操作员取一支 LC 插芯装入套筒,启动自动循环(回转 360° 扫描),3~5 分钟出全参数报告,判 OK/NG 并统计 Cpk。相比送外检或上大机 YGN-590,524SF 提升周转且数据可比(文件格式互通)。

注意:微小插芯对温漂极敏感(陶瓷热胀系数 ~7×10⁻⁶/℃),检测环境须 23℃ 稳态,装机时避免手触金属座传热致瞬时漂移;气浮主轴须定期吹扫防尘(LC/MU 产线粉尘多)。

YGN-524SF 以紧凑、*、专攻 SFF 之特性,补足 YGN-590 在大型实验室外之产线/QC 现场缺口,形成柳下技研光纤几何检测从小到大全覆盖。


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