KOBRA-WFD0 王子计测 OSI专为长条形光学薄膜研发的高精度自动进样式光学位相差测量系统玉崎科学代理

Oji Keisoku (王子计测 OSI) KOBRA-WFD0 是一款专为长条形光学薄膜研发的高精度自动进样式光学位相差测量系统，玉崎科学仪器代理现货

OSI王子计测相位差测量系统带样品进给 

KOBRA-WFD0 相位差测量系统（带样品进给）

■特征
测量方法：
平行尼科尔旋转法

测量波长：
450、500、550、590、630、750nm

样品尺寸
轮廓测量：宽度 50mm x 长度（任意值），
入射角依赖性：30mm 至 40x50mm，t3 或更小

测量区域
33mm²（5.8mm 正方形：感光细胞区域）

软件名称：
KOBRA-DSP/FD
KOBRA-RE0

测量项目：
相位差分布、
入射角依赖性、
波长色散特性

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Oji Keisoku (王子计测，OSI) KOBRA-WFD0 是一款专为长条形光学薄膜研发的高精度、自动进样式光学位相差测量系统，核心用于薄膜的相位差、取向角、波长色散及入射角依赖性分析，是光学膜研发与质检的设备。

一、核心技术原理

测量方法：平行尼科尔旋转法 (Parallel Nicol Rotation Method)

相比传统旋转检偏器法，对低相位差样品（如 OLED 圆偏光片基材）灵敏度高。

光路稳定性强，可实现宽量程一次性测量，无需切换档位。

光源系统：6 波段固态 LED 光源

波长：450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm (±2 nm)

寿命：>20,000 小时，免维护，无需更换汞灯 / 卤素灯。

二、关键技术参数

测量范围

相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（覆盖从薄膜到厚补偿膜全量程）

取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

精度指标

相位差分辨率：0.001 nm

相位差重复性：≤ 0.03 nm (150 nm 标样，590 nm, 3σ)

角度分辨率：0.001°

样品规格

轮廓测量 (Profile)：宽度 50 mm × 长度任意（支持连续自动送料）

入射角依赖测量：30 mm ~ 40×50 mm，厚度 t ≤ 3 mm

测量光斑：33 mm² (5.8 mm 方形)

控制系统

软件：KOBRA-DSP/FD, KOBRA-RE0

支持数据可视化、报告导出、多点分布分析

三、产品核心优势

宽幅自动进样

专为卷对卷 (Roll-to-Roll) 工艺的长条形薄膜设计，支持连续、自动化的长度方向相位差分布（Profile）测量。

大幅提升检测效率，适合产线抽检与研发批量测试。

宽量程与高精度

单次测量覆盖 0 至 20,000 nm，无需更换检测器或调整增益。

对nm 级薄薄膜（如 OLED 用 COP 膜）和μm 级厚膜（如大尺寸 LCD 补偿膜）均具备纳米级测量精度。

多功能分析能力

相位差分布 (Profile)：沿薄膜宽度 / 长度方向的均匀性分析。

入射角依赖性 (Angle Dependence)：模拟不同视角下的光学表现。

波长色散特性 (Wavelength Dispersion)：多波长下的相位差变化趋势。

四、典型应用领域

显示光学材料：相位差膜、偏光板、OLED/LED 用圆偏光片、液晶补偿膜

高分子材料：拉伸薄膜、聚酰亚胺 (PI) 膜、COP/Cyclic Olefin Polymer 膜

研发与质检：光学膜材料开发、制程稳定性监控、来料品质检验、失效分析

五、结

KOBRA-WFD0 是王子计测 KOBRA 系列中面向长卷光学薄膜的离线高精测量旗舰机型。其凭借平行尼科尔旋转法、6 波长 LED与自动送料三大核心技术，平衡了宽测量范围与纳米级精度，是平板显示、光学薄膜产业中进行材料研发、工艺优化与品质管控的精密分析工具。

六、采购渠道

欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：

玉崎科学仪器（深圳）有限公司

专项负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵⁰⁹⁹⁸  （林）

公司*：www.shashinkagaku.com

地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

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