XFL6 能量色散X射线荧光分析仪

一、核心性能与技术优势

1. 检测*，灵敏度高
   • 搭载 高分辨率 SI-PIN 半导体探测器，背景噪声低，元素检出限优异。
   • 配置 薄铍窗光管（ROHS/C1 版），对 Mg、Al、Si、P、S 等轻元素激发效果好。
   • 测量范围广：覆盖 Na (钠)~U (铀) 全元素，含量范围 1ppm~99.99% 全跨度。
2. 分析速度极快，效率高
   • 多元素 同步测试，60~100 秒 内即可完成全谱定性 + 定量分析。
   • 高计数率光路设计，大幅缩短测试时间，满足大批量样品快速筛查。
3. 样品适应性极强（大空腔）
   • 下照式、大容量样品腔，可放 固体、粉末、液体、不规则件、大型工件。
   • 无需复杂制样：固体简单擦拭、粉末无需压片、液体直接装样即可测试。
   • 支持多种 准直器 / 滤光片 自动切换，适配不同样品与检测方案。

二、使用与维护优势

1. 操作极简，智能自动化
   • 智能系统：开盖→放样→关盖→点测，4 步完成，新手快速上手。
   • 软件界面友好，自动生成报告，大幅降低人为误差。
2. 稳定可靠，环境适应强
   • 优化光路与结构设计，长期运行稳定性高。
   • 对电压波动不敏感，无需稳压电源，工业环境可直接使用。
   • 多重安全防护（辐射、过温、过载），辐射水平接近环境本底，安全无害。
3. 维护成本极低
   • 核心部件（光管、探测器）寿命长、免维护。
   • 无易损耗材、无冷却液、结构简单，后期使用成本远低于 WD-XRF。

三、行业应用优势

• 环保合规（ROHS+C1 版）：完全符合 ROHS、ELV、REACH、加州 65 等标准，*检测 Pb/Cd/Hg/Cr/Br 等有害元素。
• 贵金属检测（贵金属版）：专测 Au、Ag、Pt、Pd 等，精度高、无损、秒出结果。
• 通用型优势：广泛用于 地质、冶金、电镀、玩具、建材、土壤 等行业的成分与镀层分析。