深圳京都玉崎推出MORITEX茉丽特低角度环形光源CV-RLA-75X46-00R-M1

在机器视觉表面缺陷检测中，工件表面的微小不均匀特征（如浅层压纹、细微划痕或凹坑）往往会因为强烈的光学反射而被淹没，导致相机难以捕捉，为此，全球*的光学视觉 MORITEX（茉丽特） 创新设计了高均匀性的低角度与暗场环形光源照明矩阵。针对不同的光路倾角与工作距离，MORITEX 提供了 MG-Wave® MLRL系列 以及 CompaVis® CV-RLA（含0度与常规角度） 多个维度交织的技术方案，其中一部分系列通过引入来自浅角度的360度全方位照射，能够*突显工件表面的细小突起与凹陷，并能确保LED颗粒即使在极度光滑、高反光的工件表面上也不会产生局部的刺眼反射。为了将极端环境打光进行细分，另一部分系列则专注于提供从零度起的*水平光源结构，这使得光源硬件可以在极短、甚至贴近被测物的工作距离内完成紧凑组装，利用暗场照明结构将大部分直接反射光线折射到镜头视野之外，从而实现对浅层缺陷的强化捕捉。在产品的底层匹配关系上，精密电流驱动系列与高功率功率驱动系列展现了无缝交融的设计逻辑，内径与外径尺寸跨度极广，由微小型口径平稳延伸至宽阔的大视场尺寸，其物理尺寸与电气参数相互渗透，保障了硬件层面的互配性。色温控制层面则延续了红色光、蓝色光与白色光的三原色波长分布，长波红光对工件表面的微小杂质包容度高，短波蓝光则对薄涂层和纳米级形变具有极高敏感性，而宽光谱的白光能*实现色差再现。通过对这几个低角度环形阵列光源进行合理的维度选型，机器视觉工程师能*破局高反光、薄材质的在线检测瓶颈，极大化规避边缘盲区并消除杂散反射，保障自动化线体的高信噪比成像质量与稳健的检测精度。

CompaVis® CV-RLA-00系列 规格表