镀层测厚仪Thick880是利用x射线荧光技术解决镀层厚度分析的检测仪器。

*高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

• *用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
  *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
  *有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

   

  的技术
   *的 Peltier 电制冷进口检测器 
     *数字脉冲处理 (DPP) 技术

       *基本参数 (FP) 无标样分析方法

         *高性能、多元素分析

   

  功能强大、易于使用的元素分析软件 
  无标和半无标分析 
  基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法 
  多层厚度及成分 
  不限元素、不限数量的标样 
  利用自动化操作实现多个激发条件

   

  可应用于
  *合金分析

  *镀层厚度分析
  *电镀液金属离子分析

  *磁性介质和半导体元素分析 
  *过滤器上的薄膜元素分析
  *塑料中的有毒元素分析