扫频光谱分析系统SSA

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。

产品特点
  • 多功能
  • C+L、O波段（可选）
  • 可扩展扫频光源
  • 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量
主要应用
  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器
  • 光学测量分析二次开发
参数
主要参数
损耗（IL）

测量长度  200 m
波段 1 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 nm
波长分辨率 1.6 pm
波长精度 ±1.0 pm
动态范围 60 dB
插损精度 ±0.1 dB
分辨率 ±0.05 dB
扫频光源

功率 3 1 mW
波长 1 1525 ~ 1565；1290 ~ 1330 nm
波长精度 5 pm
扫描速度 10 ~ 100 nm/s
边摸抑制比 60 dBc
消光比 15 dB
硬件

主机功率 60 W
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 W 345 * D 390 * H 165 mm
重量 7.5 kg
储藏温度 0 ~ 50 ℃
工作温度 10 ~ 40 ℃
工作湿度 10 ~ 90 %RH
备注：
  1. 1.可升级扫描范围；
  2. 2.可升级动态范围到80dB；
  3. 3.可升级高功率版本(2mW/5mW)。

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