x荧光光谱仪测试速度快,1秒钟出结果
1、采用行业*的极速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业*的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现高计数率，保证采集有效计数率过600KCPS
3、采用大功率X光管及*的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统

	优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度



	 


测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，*薄可测试0.005μm
元素含量分析范围：2ppm～99.99%
探测器：SDD探测器，分辨率低可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片自由切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源