纳米焦点X射线检测系统

主要功能

  • 通过*的双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像
  • 高放大倍率
  • 的操作
  • 高度的可再现性
  • 180kV/ 15 W高功率开放纳米焦点管具有高达200纳米的细节探测能力
  • 可升级到 nanoCTÒ
  • 可选：
    • x|act 软件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自动X射线检测(?AXI），以达到极高的缺陷覆盖率，具有高放大倍率和可再现性
    • 通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器与主动冷却获取的30 FPS（帧每秒）的清晰的活动检测影像
    • 10秒内的三维计算机断层扫描
    • 通过菱形|窗口以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集

顾客利益

  • 组合的二维 /三维CT操作
  • 通过*的双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像
  • 检测步骤的自动化是可能的
  • 显著的易用性


安装好的印刷电路板

处理器箱内倒装芯片焊点的纳米焦点X射线图像。 图像显示一个焊桥和几个开放的焊点。 焊点直径大约为 150 µm.


半导体与其他电子元件

4000 个温度应力周期后 µBGA的nanoCT® 。 由于有0.5微米的体素尺寸，可以检测到8 到小于1微米的裂缝。



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