高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048 通道逐次近似计算法 ADC（模拟数字转换器）

Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样，使用基础参数

计算方法，对样品进行的镀层厚度分析

3. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度

4. 励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu/ABS 等]

双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等]

三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass 等]

四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等]

合金镀层应 [如：Sn-Pb/Cu ]

5. Multi-Ray. WINDOWS7 软件操作系统

6. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

7. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。*测量点数量 = 每

9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有*多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"

和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准

样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

三、产品配置及技术指标说明

1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，使用寿命（工作时间>18,000 小时）

微焦点 x 射线管钼、钨、铑钯(可选）

焦斑直径：35μm

2. 探测器：SDD探测器

能量分辨率：125±5eV