LB-8100S多功能推拉力测试机广泛用于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、大尺寸PCB测试、MINI面板测试、大尺寸样品测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试及各类校的测试研究等应用。
1、推力测试:通过左右摇杆将测试头移动至所测试产品后上方,按测试后,Z 轴自动向下移动,当测试针头触至测试基板表面后,Z 向触发信号启动,停止下降,Z 轴向上升至设定的剪切高度后停止。Y 轴按软件设定参数移动,当移动完成设定距离参数后,设备停止运动,软件将测试过程中的受力过程以曲线方式显示,同时将过程中峰值力值进行数据分析后显示并保存。
2、拉力测试:通过左右摇杆将拉力测试头 移动至测试物体按测试后,Z 轴自动向上移动,当移动完成设定距离参数后,设备停止运动,软件将测试过程中的受力分布以曲线方式显示,同时将过程中峰值力值进行数据分析后显示并保存。
所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统,确保测试数据的准确无误。
采用公司研发的高分辨率(24BitPlus高分辨率)的数据采集系统。
运动核心部件均采用进口厂商,确保设备长久运行。
采用公司独有的安全限位及安全限速技术,让操作得手应手。
采用公司独有的智能灯光控制与调节系统,减少光源对视力的损伤。
标配高清观察显微镜,减少人员视觉疲劳。
双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。
坚固的机身设计、适用与500KG的力值测试。
结合人体学的设计,让使用更加舒适。
设备全方位的保护措施,避免因人员误操作对设备的损坏。
强大的研发实力,根据客户的需求提供订制化产品。
贴心的售后服务,让使用人员无后顾之优。
1、测试量程: |
晶片推力 5KG,综合测试精度 ±0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器) |
2、X 工作台: |
有效行程 80mm;分辩率 ± 0.002mm |
3、Y 工作台: |
有效行程 80mm;分辩率 ±0.002mm |
4、Z 工作台: |
有效行程 100mm;分辩率 ± 0.001mm |
5、平台夹具: |
平台可共用各种夹具,夹具可 360 度旋转 |
6、运动平台: |
四向运动平台,采用进口传动部件,确保机台高速、长久稳定运行 |
7、控制操作: |
双摇杆控制机器四向运动,操作简单快捷 |
8、操作系统: |
机器自带电脑,windows 操作系统,软件操作简单,所有测试数据及测试曲线可实时实保存与导出。 |
9、外观尺寸: |
长 570mm*宽 400mm*高 670mm。 |
10、电源: |
220V±5% 供气源:0.4-0.6MPA |
11、功率: |
300W(max) |