易科泰应邀参加地球科学联合学术年会

阅读:发布时间:2020-10-29

2020年1017-21日,2020年地球科学联合学术年会在重庆召开。逢此盛会,来自地球物理学会、岩石学与地球动力学研讨会组委会、地质学会构造地质学与地球动力学*委员会、地质学会区域地质与成矿*委员会等领域的*学者应邀出席,精英荟萃,济济一堂。

图片1.jpg

北京易科泰生态技术有限公司受邀参会,展示了上述领域的前沿分析技术,包括Specim高光谱成像技术、XRF Scanner 样芯密度扫描与元素分析技术LIBS元素分布成像技术GeoDrone®遥感技术等,引起了参会*学者的广泛关注和积极探讨。


图片2.jpg

  
高光谱成像分析技术
可对样品进行快速无损检测,即时呈现物质差异的二维成像分布信息,作为前沿的分析技术,在检测领域发展迅猛,已获得广泛应用,具有无限前景。

 易科泰应邀参加地球科学联合学术年会 

XRF Scanner 样芯密度扫描与元素分析技术
系统采用XRF和高分辨率数字光学成像技术,非破坏性测量,获得岩石样芯高分辨率的数码图像,然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。

 易科泰应邀参加地球科学联合学术年会

  
Lightigo LIBS元素分布成像技术:
用于古环境重建,矿物相比例,岩石土壤C、N分析,几秒可同时测得元素周期表上所有元素的信息,可对元素分布进行定性定量成像测量,无须样品预处理,测量准无损伤。

易科泰应邀参加地球科学联合学术年会 

  
GeoDrone®遥感技术
利用作为飞行平台搭载高光谱传感器,结合后期图像处理技术及数据分析技术,可快速获得海量地质信息,成为地勘人快速采集信息的高效平台。

 易科泰应邀参加地球科学联合学术年会

 

易科泰提供更多研究方案及应用
1. 高光谱成像技术在地矿勘查研究中的应用
2. 利用机载高光谱成像检测沥青路面的抗滑性
3. 易科泰地质地球科学国际*技术推介
4. 易科泰样芯(芯体)扫描分析技术
5. 样芯分析技术应用案例—高光谱成像与XRF元素分析技术应用于湖底沉积样芯分析
6. 样芯分析技术应用案例—LIBS、XRF、高光谱成像应用于岩矿样芯分析
7. 应用LIBS技术对砂岩型铀矿进行元素Mapping和伴生分析

上一篇:ntScreen-SC植物...
下一篇:第二届植物光生物学大会邀请函