SANK0山高 电磁/涡流膜厚计探头SFe-...
型号名称
SFN-325
连接设备类型
SWT-NEO系列（NEO、NEOⅡ、NEOⅢ型号）
测量方法
电磁式和涡流式均适用（自动识别基材）
测量范围
黑色金属底座：0~3.00mm 有色金属底座：0~2.50mm
材质鉴别
自动检测、手动切换
显示分辨率
1μm：0-999μm
切换
0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm
0.01mm：（铁基1.00-3.00mm）（非铁基1.00-2.50mm）
切换
0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm
0.01mm：（铁基1.00-3.00mm）（非铁基1.00-2.50mm）
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
（垂直于光滑表面测量）
0~100㎛：
示值的±1㎛或±2%以内
（含铁基） 101㎛~3.00mm：±2%以内
（有色基） 101㎛~2.50mm：±2%以内
示值的±1㎛或±2%以内
（含铁基） 101㎛~3.00mm：±2%以内
（有色基） 101㎛~2.50mm：±2%以内
探测
1点恒压接触式，带V切口
φ15 x 50.9mm, 72g
φ15 x 50.9mm, 72g
选项
V型探头适配器
配件
标准厚板、测试用零板（黑色金属和有色金属）
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