SANK0山高 膜厚计探针测量架

SANK0山高 膜厚计探针测量架

膜厚计探针测量架


规格

测量范围
0~2.00mm
显示方式
LCD数字、显示保持
显示分辨率
1μm:0-999μm
切换
0.1μm:0-400μm
0.5μm:400-500μm
0.01mm:1.00-2.00mm
测量精度(垂直于光滑表面测量)
均匀表面上0~100μm
:±1μm或示值的±2%
101μm~2.00mm:±2%以内
校准曲线记忆
×1
电源
AA 碱性电池 (1.5V) x 2 连续使用时间(25 小时*)
AC 适配器(可选),带
自动断电功能
**长(可能会根据使用条件而变化)
工作温度
0~40℃(无凝结)
飞机尺寸
72(宽)×30(高)×156(深)毫米
重量
约270克(含电池)
配件
标准厚板、测试调零板、干电池、收纳盒、手带绳、保修卡/用户登记表、使用说明书
探测
1点恒压接触式,带V切口,φ13 x 47mm
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