昆明电子秤检测校验
世通耿Ｓ分享：千分尺的正确测量方法
千分尺使用注意事项
01. 千分尺是一种精密的量具，使用时应小心谨慎。
02. 有些千分尺为了防上手温使尺架膨胀引起微小的误差，在尺架上装有隔热装置，操作时应手握隔热装置，而尽量少接触尺架的金属部分。
03. 使用千分尺测同一长度时，一般应反复测量几次，取其平均值作为测量结果
04. 千分尺用毕后，应用纱布擦干净，在测砧与丝杆之间留出一点空隙，放入盒中，如长期不用可抹上黄油或机油，放置在干燥的地方。
各位工程师是否遇到需要使用到CAN通信但缺少CAN接口的情况？简便的方案是采用UART转CAN通讯。ZLG致远电子针对此应用CSM1系列模块解决方案，这款模块将极大的简化了开发流程，实现的方式是怎样的？本文为你详解。一个嵌入式或者X86的工业控制板上，一般都会提供CAN、UART、以太网、USSPI2C等通讯接口，但是由于处理器的限制以及满足通用性需求，很多厂家只能均衡的去分配这些接口，比如致远电子旗下的部分工控核心板的接口就如下图所示：可以看到通用型核心板一般提供的CAN-bus为2路，2路CAN-bus可以有效的保证通用需求，但是在一些特殊的情况，应用中需求变成了4路甚至5路CAN的需求。
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半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，
千分尺主要有以下部分组成： 测砧， 丝杆，游标刻度，棘轮，固定套筒，锁紧螺母，支架等组成。
01. 内径千分尺在测量及其使用时，必需用尺寸**的接杆与其测微头连接，依次顺接到测量触头，以减少连接后的轴线弯曲。
02. 测量时应看测微头固定和松开时的变化量。
03. 在日常生产中，用内径尺测量孔时，将其测量触头测量面支撑在被测表面上，调整微分筒，使微分筒一侧的测量面在孔的径向截面内摆动，找出尺寸。然后拧紧固定螺钉取出并读数，也有不拧紧螺钉直接读数的。这样就存在着姿态测量问题。姿态测量:即测量时与使用时的一致性。例如:测量75,600/0.01mm的内径尺时，接长杆与测微头连接后尺寸大于125mm时。其拧紧与不拧紧固定螺钉时读数值相差0.008 mm既为姿态测量误差。
04. 内径千分尺测量时支承位置要正确。接长后的大尺寸内径尺重力变形，涉及到直线度、平行度、垂直度等形位误差。其刚度的大小，具体可反映在"自然挠度"上。理论和实验结果表明由工件截面形状所决定的刚度对支承后的重力变形影响很大。如不同截面形状的内径尺其长度L虽相同，当支承在(2/9)L处时,都能使内径尺的实测值误差符合要求。但支承点稍有不同，其直线度变化值就较大。
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信号发生器生成波形的方式可以大致分为两种DDS模式和Arb模式。两种模式都具有优缺点。DDS模式具有低成本、低功耗、高分辨率和频率转换快等优点，适合输出调频、调相、扫频信号。但是DDS可能会丢失一些数据点。另外一种方式就是Arb模式，可以理解为真任意波形发生器的意思。使用Arb模式可以编辑真实的复杂的任意波形信号。无论是上述两种方式的哪一种或是一些新推出的其他方式的波形生成方法，采样（时钟）速率和分辨率都是非常关键的参数。
夹钳法（耦合法）通过耦合夹钳卡住电缆本体（要求两端铠装必须接地），可带电查找电缆路径。耦合法接线示意图3.测试方法原理电流流经金属导体时，就会产生相应的磁场。所示的是向线芯与金属护层之间注入电流信号的接线等效电路图，从图中可知，电流从线芯进入，经金属护层与大地返回。线芯与金属护层都是金属导体，通过电流时都会产生相应的磁场，但线芯与金属护层中的电流方向是相反的，其产生的磁场方向也必是相反的，如果两者中的电流值相等，磁场就会相互抵消，在电缆周围就不会有相应的磁场。
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