高精度OFDR设备OCI高分辨光学链路诊断仪
OCI是一款高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。
- 波长范围：1525~1625nm或1265~1340nm
- 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m
- 测量长度：100m（可定制升级）
- 自校准，无需人为干预，稳定性好
- 可扩展分布式温度、应变测量
- 可提供定制服务
- 光器件、光模块测量
- 光纤长度测量
- 硅光芯片测量
- 光谱、群延时测量
分布式温度、应变传感
- 土木建筑结构健康监测
- 复合材料疲劳检测
- 汽车结构应变、温度检测
- 应变场、温度场重构
|
主要参数 |
|||
|
测量长度1 |
50 |
100 |
m |
|
空间分辨率 |
10 |
20 |
μm |
|
测量时间2 |
<12 |
<8 |
s |
|
灵敏度 |
-130 |
dB |
|
|
回损测量范围 |
-125~0 |
dB |
|
|
回损动态范围 |
80 |
dB |
|
|
插损动态范围3 |
18 |
dB |
|
|
回损、插损分辨率 |
0.05 |
dB |
|
|
回损、插损精度 |
±0.1 |
dB |
|
|
盲区 |
无 |
- |
|
|
光谱 |
|||
|
波长范围4 |
1525 ~ 1625 或 1265 ~ 1340 |
nm |
|
|
波长分辨率 |
0.015 |
pm |
|
|
波长重复精度 |
±1.0 |
pm |
|
|
群延时精度 |
1.0 |
ps |
|
|
硬件 |
|||
|
输入电压 |
AC 220/110V和 DC 12V |
- |
|
|
主机功率 |
60 |
W |
|
|
通讯接口 |
USB |
- |
|
|
光纤接口 |
FC/APC |
- |
|
|
尺寸5 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
|
|
重量 |
7.5 |
kg |
|
|
储存温度 |
0 ~ 50 |
℃ |
|
|
工作温度 |
10 ~ 40 |
℃ |
|
|
储存与工作湿度 |
＜90 |
%RH |
|
|
扩展功能6 |
|||
|
分布式应变/温度测量 |
|||
|
传感长度 |
100 |
m |
|
|
传感空间分辨率 |
1 |
mm |
|
|
应变测量精度 |
±1.0 |
με |
|
|
应变测量范围 |
±12000 |
με |
|
|
温度测量精度 |
±0.1 |
℃ |
|
|
温度测量范围7 |
-200 ~ 1200 |
℃ |
|
备注
1. 长度可定制：200m@80μm 、1km@1mm；
2. 10μm空间分辨率，测量长度50m，测量时间12s；20μm空间分辨率，测量长度100m，测量时间8s；
3. 插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的*来回损耗；
4. 可定制830nm、1064nm波段；
5. 尺寸可定制更小；
6. 扩展功能为升级模块，需要单独购买；
7. 温度测量范围取决于传感器。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
相关资料