光矢量分析系统OCI-V
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用光路设计以及*算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。
- 自校准
- 测量长度：200m
- 波段：C+L波段：1525~1625nm、O波段：1265~1340nm（可选）
- 1秒内测量多种光学参数
- 平面波导器件
- 硅光器件
- 光纤器件
- 波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数：
- 偏振相关损耗PDL
- 偏振模色散PMD
- 插损IL
- 群延时GD
- 色散CD
- 琼斯矩阵参数
- 光学相位
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主要参数 |
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标准模式 |
高动态范围模式 |
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测量长度1 |
200 |
m |
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波段 |
C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340 |
nm |
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波长分辨率 |
1.6 |
pm |
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波长精度 |
±1.0 |
pm |
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损耗（IL） |
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动态范围 |
60 |
80 |
dB |
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插损精度 |
±0.1 |
±0.05 |
dB |
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分辨率 |
±0.05 |
±0.002 |
dB |
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回损精度 |
±0.1 |
dB |
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群延时 （GD) |
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量程 |
6 |
ns |
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精度 |
±0.2 |
±0.1 |
ps |
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损耗范围 |
45 |
60 |
dB |
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色散（CD） |
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精度 |
±10 |
±5 |
ps/nm |
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偏振相关损耗（PDL) |
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动态范围 |
40 |
50 |
dB |
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|
精度 |
±0.05 |
±0.03 |
dB |
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偏振模色散（PMD） |
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|
量程 |
6 |
ns |
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|
精度 |
±0.1 |
ps |
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|
损耗范围 |
40 |
50 |
dB |
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硬件 |
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主机功率 |
60 |
W |
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通讯接口 |
USB |
- |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储存温度 |
0 ~ 50 |
℃ |
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储存与工作温度 |
10 ~ 40 |
%RH |
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定制功能2 |
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测量长度 |
100 |
m |
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空间分辨率 |
10μm@50m |
20μm@100m |
μm |
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回损测量范围 |
-125 ~ 0 |
dB |
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插损动态范围 |
18 |
dB |
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插、回损分辨率 |
0.05 |
dB |
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插、回损精度 |
±0.1 |
dB |
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备注：
1.透射模式测量长度200m，可拓展反射模式，测量长度为100m；
2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能，测量光纤链路。
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