低成本光学链路诊断系统OLI
- 可定制扫描测量长度
- 支持多通道测量升级
- 高采样分辨率和定位精度
- 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
- 光纤微裂纹检测
- 产线自动化检测
- FA光纤阵列链路性能检测
- 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
- 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
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主要参数 |
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基础参数 |
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工作波长 |
1290~0 |
nm |
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测量长度1 |
12 45 90 |
cm |
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采样分辨率 |
1 |
μm |
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定位精度 |
0.3 |
mm |
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测量时间2 |
1~15 |
s |
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回损测量范围 |
-10~-100 |
dB |
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回损重复精度 |
±3 |
dB |
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硬件 |
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输入电压 |
AC 220/110V；DC 12V |
- |
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主机功率 |
60 |
w |
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通讯接口 |
USB |
- |
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引纤长度3 |
5 |
m |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储存温度 |
0~50 |
℃ |
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工作温度 |
0~40 |
℃ |
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储存与工作湿度 |
10~70 |
%RH |
备注：
1.测量长度指设备*测量长度，在该*测量长度内可任意选择测量区间段；
2.测量时间与测试长度相关，可任意选择扫描长度，测量时间1s@2cm、15s@90cm；
3.标准版引纤长度为5m，可定制其他长度。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
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