晶体管图示仪

BND-5000测试仪指标

 

技术指标

主极参数

控制极参数

指标

标配

 

指标

标配

 

主极电压:

1mV-2000V

 

①控制极电压:

100mV-20V

 

②电压分辨率:

1mV

 

②电压分辨率:

1mV

 

主极电流

0.1nA-100A

 

③控制极电流:

100nA-10A

 

④电流分辨率:

0.1nA

 

 

 

 

⑤测试精度

0.2%+2LSB

 

 

 

 

⑥测试速度

0.5mS/参数

 

 

 

 

 

 

 

1.3  BND-5000测试系统是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,可真实准确测试下列各种大、中、小功率的半导体分立器件。

  

 

测试范围 / 测试参数

 

序号

测试器件

测试参数

 

01

绝缘栅双极大功率晶体管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS

 

02

MOS场效应管 

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS

 

03

J型场效应管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF

 

04

二极管

DIODE

IR;BVR ;VF

 

05

晶体管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF

 

06

双向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-

 

07

可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH

 

08

硅触发可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

 VPK-;VGSW+;VGSW-

 

09

达林顿阵列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON

 

10

光电耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)

 

11

继电器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME

 

12

稳压、齐纳二极管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ

 

13

三端稳压器

REGULATOR

Vout;Iin;

 

14

光电开关

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF

 

15

光电逻辑

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF

 

16

金属氧化物压变电阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;

 

17

固态过压保护器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-

 

18

压变电阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-

 

19

双向触发二极管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

 


1.4系统曲线测试列举
ID vs. VDS at range of VGS             

ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD                             

RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS             

IDSS vs. VDS
HFE vs. IC                            

BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE                          

BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC             

VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)      

VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF

1.5系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

    一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。


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