X射线镀层测厚仪标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,镀层标准片或者薄膜片,*用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

美国CalMetrics标准片通用于各大镀层测厚仪,如美国THermo(LXR,VXR,MXR,ZXR,GXR,XRF-4000,XRF-5000),日本精工SII(SFT-157,SFT-3200,SFT-9200),德国宏德(Compact eco,comapct 5pin,maxxi 5 pin),韩国XRF-2000系列,CMI测厚仪,Fischer等。含原厂证书,有效期一年,满一年后可送厂校证。


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