奥林巴斯BX53M金相显微镜主要特点：

可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光、红外等多种观察方式。

 反射光和透射光照明提供了高强度的白光LED光源。

 具有ESD静电消除能力，防止受到静电放电的影响。

 根据工业和材料学的不同应用，可以组合成反射显微镜、透反射显微镜、红外显微镜、偏光显微镜等多种应用的显微镜。

 采用了新的编码功能，将显微镜的硬件设置与奥林巴斯Stream图像分析软件整合在一起，观察方法、照明强度和物镜位置全部记录在软件或手动控制器里。

产品名称: BX53M金相显微镜

完全系统化


• 模块化的设计能够实现多种配置，以满足用户的各种要求。



LED照明


• BX53M为反射光和透射光照明提供了高强度的白光LED光源。无论强度是，LED都保持着一致的色温。LED提供了高效而长寿命的照明，是材料学检测应用的理想工具。



用于材料学的配置



• BX53M反射和反射/透射观察

• BX3M系列有两种显微镜机架，一种仅用于反射光，一种用于反射光和透射光组合。两种机架都可配置手动、编码或电动部件，并且都配备有ESD防静电功能。




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• BX53M IR观察

• IR物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外（IR）物镜，提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜，校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。




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物镜	放大倍率	NA(数值孔径)	WD（mm）	盖玻片厚度（mm）	硅厚度（mm）	分辨率(um)(孔径光阑全开)
LMPLN-IR	5X	0.1	23	0~0.17	_	6.71
	10X	0.3	18	0~0.17	_	2.24
LCPLN-IR （适合FN22，不适合FN26.5）	20X	0.45	8.3	0~1.2	0~1.2	1.49(使用1100mm波长)
	50X	0.65	4.5	0~1.2	0~1.2	1.03(使用1100mm波长)
	100X	0.85	1.2	0~0.07	0~1.0	0.79（使用1100mm波长）
	无校正环物镜观察效果			有校正环物镜观察效果




• BX53M偏光观察

• 详见BX53P偏光显微镜介绍。



显微镜机架


• 两种显微镜机架可用于反射光；一种还具有透射光观察能力。同时配备了一个适配器，以抬升照明器，适应更高的样品。







物镜	图号	反射光	透射光	样品高度
BX53MRF-S	1	yes	no	0-65 mm
BX53MTRF-S	2	yes	yes	0-35 mm
BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	1、3	yes	no	40-105 mm
BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	2、3	yes	yes	40-75 mm



BXFM系统


• BXFM适合于特殊应用，或整合进其它仪器中。模块化结构，再加上各种特殊的小型照明器和固定装置，使其可以直接用于的环境和配置。






支架


• 显微镜检查时如果样品不适合放在载物台上，可以在更大的支架上或其它设备上安装照明器和光学元件。