天光测控IGBT开关特性测试系统

                  ST-DP_X（1200V200A）

产品简介

*： 天光测控

*型号： ST-DP_X（1200V200A）

*用途： 用于 Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&IGBT开关时间参数测试，

           1200V/200A的输出能力，覆盖几乎所有的半导体分立式单管器件

*/，欢迎垂询

*参数指标：
        开通延迟 td(on) 0.1ns~10us         关断延迟 td(off) 0.1ns~10us
        上升时间 tr 0.1ns~10us                下降时间 tf 0.1ns~10us
        开通时间 ton 0.1ns~10us              关断时间 toff 0.1ns~10us
        开通损耗 Eon 1uJ~1000mJ           关断损耗 Eoff 1uJ~1000mJ
        拖尾电流 0.1A~30A

*关于售后：质保一年，提供免费上门巡检服务；客服7*24小时开通/电脑远程服务。

产品简述
      天光测控IGBT开关特性测试仪是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计，根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT（双脉冲测试 Double Pulse Testing，以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性）栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。
      产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，*高测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃，支持生产线批量化全自动测试。

        王生，欢迎垂询。

产品特点

Ø *测试系统电压以1500V为一个模块，电流以2000A为一个模块，可扩展至10KA/10KV
Ø *内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
Ø *另有程控式电感箱可供选择
Ø* 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可
Ø *可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能
Ø *测试软件具有实验模式和生产模式，测试数据可存储为Excel文件
Ø *门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nH
Ø *系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）
Ø *安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）
Ø *系统具有安全工作保护功能，以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害，设计符合CE
Ø *支持半自动和全自动测试
Ø *采用工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点
Ø* 自动化：单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线
Ø *智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传局域网
Ø *安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。

*欢迎垂询，               

                                                                             天光测控2020.05.27/叶