系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其*世界的光子晶体制造技术开发的产品，的测量技术，高速而又的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的机器，*适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

WPA-200

主要特点:

• 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

• 具有多种分析功能和测量结果的比较。

• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

• 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

  · 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

  · 有机材料（球晶、FishEve）
  

  
  技术参数：
  

  项次	项目	具体参数
  1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
  2	测量波长	520nm、543nm、575nm
  3	双折射测量范围	0-3500nm
  4	测量*小分辨率	0.001nm
  5	测量重复精度	<1nm（西格玛）
  6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）
  7	选配镜头视野	无选配
  8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

  
  

  
  

  测量案例：