Nano-inXider：针对纳米材料表征的综合解决方案

得益于Xeuss 2.0的研发，Nano-inXider采用了垂直光路系统，紧凑易用的设计使得它可适应任意实验室环境。

高性能

Nano-inxider继承了Xeuss 2.0的优点：

1. 的纯净光技术，具有*的测试性能；

2. 测试环境的全真空内腔设计；

3. 集成新一代Dectris的混合像素探测器。

易用

Nano-inXider具有大的样品腔，以方便对样品进行操作。所有样品架都配备了通用的快速接口，在样品环境变换时无需对样品位置进行调整。强大的控制软件，仅需轻点几次鼠标，即可对光路和系统设定进行快速自动调节，可确保系统永远在*适合实验要求的状态下工作。

紧凑的设计

如同常见的电子显微镜等分析工具一样，Nano-inXider具有垂直设计的架构。垂直设计的架构集成了所有的配件，Nano-inXider成为市场上占地面积很小的X射线散射设备，占地面积小于1m²。

Nano-inXider配备了多种样品架，包括固体、粉末、液体、凝胶等。亦可在不同状态下进行测试，例如拉伸、温度、湿度以及剪切。Nano-inXider还可装配液体样品自动进样器，来对样品进行批量测试。

功能强大、易用的软件套装

Nano-inXider配备了集数据采集、数据处理和数据分析于一体的软件系统。强大的数据采集软件，只需轻点鼠标，即可设置所有采集参数，控制多个样品的连续测试，实现设备使用效率的*化。数据处理和分析软件操作简单易用，并且包含结构参数数据库。可通过图形化界面快速地将Nano-inXider采集的数据转换为更强大的数据分析软件所使用的标准文件，例如ATSAS和SASfit。

主要优点&特点：

1、直接从样品到结果
通过Nano-inXider智能化的设计，只需将您的样品放置在样品仓里即可。然后就能得到结果。过程非常简单快捷。

样品
操作简单。只需将您的样品放置在样品仓里即可。仪器可进行自动校准，无需用户干预。

测试
自动快捷的数据采集流程。X射线散射数据自动归一化，无需用户校准。这是通过一个嵌入到全自动设备中的强大软件套件，以及的固定双探测器配置来实现的。

分析
仪器实时显示的散射数据可用于进行实时快速的样品反馈，或使用我们的XSACT软件进行进一步的辅助分析。分析功能选择广泛，只需点击几次就能快速获得纳米结构参数。

报告
XSACT生成的高质量可发表的图表，可以通过拖放或保存文件轻松地导出到其他文档。

节约时间
Nano-inXider能更快获取结果更简单地进行数据分析
简单易用。智能化的设计可以使研究小角散射的学者，研究材料科学的科学家及技术人员快速掌握。
具有完全的远程操作能力和自动校准，Nano-inXider将人为误差降到*低，并保证重现性和测量可追溯性。
是开放操作实验室的理想选择。

+ Nano-inXider全自动工作流程
Nano-inXider数据采集软件具有以下用户友好的互动界面:
- 在采集过程中实时查看2D和1D数据
- 自动校准
- 可追溯测试过程

无需任何用户干预，自动工作流程可以进行以下所有数据处理
- 从2D图像到1D曲线的数据还原
- *强度归一化
- 自动降低宇宙背景来减少寄生散射的影响

+ XSACT分析软件
XSACT：X射线散射分析和计算工具
- 智能工作流程和用户体验
- 强大的数据分析算法组成
- 高质量可直接发表数据图

2、高精度高动态范围测量
获取可信赖的数据，将您的注意力集中在科学和数据解释上。
Nano-inXider可以通过测量透过样品的强直通光和样品的低散射强度信号来获得高信噪比数据。
通过*的无beamstop数据采集进行直通光测量，自动处理数据并获得准确度高的*强度。纯净光技术可以实现同时检测低强度信号和高强度信号。
强度采集的高动态范围直接影响数据质量：
- 能够检测弱散射样品的低强度散射信号
- 定量获得粒子数、摩尔质量、浓度、比表面积等参数
- 探测大特征尺寸，无需用户进行数据处理

+ 纯净光技术适用于高动态范围测量
Nano-inXider通过在*组件和仪器设计上长达15年的研发，达到了在样品上高X射线通量与仪器产生的低寄生散射的*平衡。
纯净光技术具有以下主要组件和特点：
- 微聚焦密封管光源(30W)与的单次反射多层膜聚焦镜结合
- 的自动无散射准直技术
- 仪器从聚焦镜到探测器传感层全部在真空环境中
- 高效低噪声混合像素光子计数探测器
- 无窗口膜的SAXS探测器

+ 无beamstop采集可得到高质量数据
Nano-inXider无需任何beamstop就可以进行SAXS测量，还可以同时采集透过样品的直通光和非常低强度散射信号。
通过*的无beamstop数据采集可实现高动态范围的数据收集。
在整个的采集过程中记录直通光，使透射测试更准确，从而使*散射强度校正更准确。
另外，被测量的直通光（分辨率函数）会被整合到数据分析中来提高测量结果的质量。
Xenocs无beamstop数据采集实现了取决于样品的自动qmin测量，并且消除了beamstop边缘的寄生散射，从而在低q区域获得高质量数据。

+ 降低宇宙背景
自动去除宇宙背景可以减少环境寄生散射的影响。

3、同时从原子级别到纳米尺寸
无需重复SAXS和WAXS测试，您可以在一次曝光内同时得到所有测量结果。
Nano-inXider的智能化双探测器设计，可以在一次曝光内同时检测到原子尺度信息和纳米结构。设备占地面积小的垂直设计，样品到探测器距离长，可以测量大的特征尺寸。
这些配置可以提供以下的优势：
- 您可以在一次曝光内获得纳米结构信息和原子尺度信息。无需重复实验。
- 由于在SAXS和WAXS中分析的是相同体积的样品，因此对于非均匀样品也能获得明确的数据。
- 在原子和纳米尺度上探测样品结构是完全同步的，这对于原位研究是必要的。

+ 双固定探测器设计便于同时进行SAXS和WAXS测量
Nano-inXider的样品和探测器都是固定的。可选的WAXS探测器配置扩大了散射范围，可以无缝衔接SAXS探测器，得到的数据达到2θ=60°。
这的垂直设计有以下优势：
- 杜绝配置选错的可能，真正的易于操作。
- SAXS和WAXS数据部分重叠，获取完整q值范围内强度*匹配的合并数据。
- 无需校准或调整样品到探测器距离。
- 同时对原子尺度和纳米尺度结构进行了探测，可以为原位研究提供清晰的数据。

+ 虚拟探测器能够增大各向异性样品或纤维的方位角覆盖
对于纤维或取向薄膜等各向异性样品，Nano-inXider配备一个样品旋转台可以获得各向异性散射信号。自动采集包括以下步骤:
- 在连续曝光期间，样品台围绕X射线旋转
- 自动合并获得的图像
- 展示高方位角的2D图谱（仪器检测的所有q范围，即使高达2θ=60°，方位角覆盖都大于200°）

4、低成本
通过每天获得的纳米级信息，来加快您的材料加工流程或验证您的研究模型。
- 高回报
- 仪器的垂直设计减少了占用的实验室空间
- 方便技术人员操作
- 仪器的高使用率带来了科研成果的高产率
- 更环保
Nano-inXider低成本的特点主要得益于它的紧凑型设计和操作成本低。

+ 紧凑型仪器
- 占地面积 < 1×1 m²
- 重量 ≈ 520 kg
- 一体化设备
- 容易安装水平样品

+ 操作成本低
- 平均功耗低 ≈ 700 W
- 仪器两年质保
- 质保三年的免维护光源
- 简洁且坚固