贵金属分析仪

能量色散型X荧光光谱仪原理

由高能X射线激发原子电子层,使得原子核外电子发生跃迁,造成二次X射线能量释放,因不同的元素释放的能量具有不同特性,探测系统测量这些能量和数量,从而计算元素含量。

主要组成部件

高压-光管-探测器与前放-主放-DPP-控制模

-通信模块-显示系统等

对贵金属进行分析和克拉级别鉴定

目前使用XRF分析仪对贵金属进行化学成份分析及纯度成色判断已经成为一种广泛应用、极受欢迎,并且有*标准的支持,且性能可靠的方法。与火花试金法和化学试剂测试法相比,使用XRF对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。

JPSPEC生产的PM-350 XRF分析仪为用户提供了种操作方便,且极高的检测技术:无需将检测工具探入到被测样件的材料中,也不会损坏被测样件,即可获得样件的合金化学成份信息,判断出样件的克拉等级。无论您是购买黄金等贵金属,还是出售或生产珠宝,或是制造金属,抑或是回收废旧金属,您都需要掌握一种可以极为地判断克拉等级以及其它贵金属与非贵金属含量的快速方法,在*时间, 以有效地控制产品质量,制定合理的价格。

PM-350分析仪可以迅速得到各种类型样品的分析结果。

PM-350分析的优势和特点

。高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面

。易于使用,一键操作,即可获得克拉等级及组成成份的分析结果

。有助于识别镀金样件的创*功能

。机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室

。按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件的化学成份和克拉等级的结果

。使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

。用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户对测试信心

PM-350分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享

。有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用

硬件性能及优势

高分辨率、清摄像头、便捷操作

快检测速度、人性化界面

清摄像头

光管电压5KV - 50KV

高压电源0 ~ 50KV Spellman(USA)

光管管流0μA~ 1000μA

滤光片可选择多种定制切换

探测器Si-pin

分辦率Si-pin1605eV

多道分析器JPSPEC-DPP

样品腔尺寸310*280*60 ( mm)

测试时间30sec100sec

仪器性能及配置

分析范围1ppm to 100 %

精度RSD0.05% Au90%

测试样品的物理状态固体、粉末、液体


感兴趣元素贵金属Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

基本金属Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

仪器环境要求

环境温度15° C~30° C

相对湿度35%70%

电源要求AC 220V5V, 50/60HZ

分析软件FP定性定量分析软件

外部尺寸380*372*362 ( mm)

重量29Kg

应用领域:

珠宝制造

回收行业

典当行/精炼行业

质量技术局

现金黄金兑换

零售行业

应用和示例

测试贵金属AuPt. Ag. Pd*的分析

现场对黄金进行克拉级别鉴定: 0-24 kt

核查废旧金属中的金含量对杂质材料进行辨别

辨别未知金属

*案例:

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