优势和特点
*高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创*功能
*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的结果
*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用
仪器应用演示
1、打开仪器上盖
2、放入样品
3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果
T-350台式XRF镀层分析仪
硬件性能及优势
高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
仪器性能
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
同时可以分析几十种以上元素,五层镀层
分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
仪器配置
高压电源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
摄像头
滤光片 可选择多种定制切换
探测器 美国进口探测器
多道分析器 JPSPEC-DPP
样品腔尺寸 310*280*60(mm)
测试时间 10sec ~ 100sec
仪器环境要求
环境温度 15°C ~ 30°C
相对湿度 35% ~ 70%
电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
分析软件 ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析软件
外部尺寸 380*372*362(mm)
重量 29Kg