Thick800A镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。 Thick800A系列X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。 它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

2、性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加* 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

3、技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层 一次可同时分析多达五层镀层 薄可测试0.005μm 分析含量一般为2ppm到99.9% 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回收程序 长期工作稳定性高 度适应范围为15℃至30℃ 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm 重量：90 kg

4、测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。 以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。

铜镀镍件X射线荧光测试谱图

铜镀镍件测试值

结论

实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。

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