HED-W5100D

全自动 Wafer ESD测试机

从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电

ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail

并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试

对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数

是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）

HED-W5000M

高性能半自动Wafer level ESD测试机

通过操作探针座，可以轻松地决定两个管脚之间的位置

在印加脉冲后，可以通过漏电流测试判断pass/fail。

HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通过开放控制软件构建广泛应用程序

HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD测试机

在对集成电路中保护电路工作参数的收集与分析上，虽然TLP测试机起到了很大的作用，但是在半导体制程细微化的发展中， 为了提高对ESD的抵抗性，保护电路需要更快的研发速度

HED-W5000M-WFC测试机，因其可以观测到被印加到器件上的实际的ESD波形，所以有助于收集、分析保护电路参数以及缩短研发速度