日本shinko-technos Wafer ESD 测试机HED-S5000R

ESD 测试机 产品系列


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HED-G5000

全自动静电破坏装置的高性能版本出现了

测试符合国际标准是可能的。
(JEDEC,ESDA,AEC, JEITA)

该系统的短路放电电路由原机设计成为可能。

短路可*限度地减小电感和电容对数据的影响。
另外,通过使用单个电路,保证了每个器件引脚的数据稳定性。


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HED-S5000R-D

全自动静电放电设备的传统机台

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备

(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD脉冲印加法


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HED-S5000R

销售实绩

可以通过连接曲线图示仪来轻松地判断pass/fail

可根据测试管脚数以及测试用途来选择型号


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HED-N5000-DCPC

多管脚高性能全自动静电放电测试机

*可进行8个器件的测试。*测试管脚数1024Pin

虽然有一定的限制,但是可以复数同时印加

是满足日本、国际规格的高可靠性设备

(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试,并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法

也可通过DC测试判断pass/fail,以及作为可添加选项,可以利用向量来进行功能测试


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HCE-5000

桌上型ESD测试仪

测试操作简单的便携式静电放电测试设备

兼容泄露测试功能,可单独利用本设备进行ESD的破坏判断


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HPE-5000

便携式ESD测试仪

本设备是测试半导体器件的静电破坏强度的设备

作为便携式小型ESD测试机的系列型号,更轻,更小,更加低成本

与本公司传统小型ESD测试机同样,用来特化两管脚间的静电印加,维持与通用设备同等的基本性能(利用ESD印加与漏电流测试来判断pass/fail)




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