温升测试箱，又叫温升测试罩。是尼普科技公司依据电子连接器EIA-364-70B测试标准而设计。是依标准规定为各种连接器、接线端子、线束、小的接插件等进行温升测试时，提供符合标准要求的环境条件下隔绝周围空气对流造成的温度影响而设计的保护罩。依据标准：EIA-364-70B,GB4706.1/IEC60335-1第11章“发热”.

根据GB/T5095.1~9和IEC512-1~512-9中2.31.规定，测量温升应尽可能在静止的空气中进行，试验样品安装在封闭盒内，以免空气流动影响附近的环境。

尼普科技依据标准为客户订制不同的测试箱（测试罩）。

测试样品放在测试箱内的耐高温电木板上进行测试。测试箱依据标准进行设计。