膜厚厚度检测仪

下照式微聚焦多准型，搭载*的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。

下照式微聚焦多准型，搭载*的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。

微聚焦加强型X射线装置：可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、*检测

变焦装置及位置补偿算法：可对各种异性凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm

研发EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可*测量

微米级移动精度：高精密XY移动滑轨，实现多点位、多样品的*位移和同时检测，移动精度可达5um，轻松应对极微小样品检测

*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

该型号膜厚仪广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域