TI 990 是布鲁克*的 TriboIndenter 平台的全面改进，其测量和分析过程的各个方面都采用了旨在消除纳米压痕仪系统常见限制的更新技术。因此，该系统具有更多的可用测量模式 ，并在广泛的实验室环境中提供高精度测量。
Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和测试带宽、测试灵活性、适用性、测量可靠性和系统模块化方面取得了显著进步，从而实现了比以前更多、更好的研究。
用于原位 SPM 成像的双压电扫描头 高分辨率、彩色光学显微镜 的低噪声 2D 电容式传感器 计量级花岗岩框架确保测试稳定性 集成主动减振系统 Performech III 控制器 减振底座的抗噪能力提高了 50 倍 多层环境隔离罩 俯视样品台成像 使用 XPM II 高速纳米压痕进行性能成像 动态纳米压痕 带有可定制面板的模块化外壳 通用样品夹具 高精度电动/自动化平台，可测试面积增加 60%
