美国LEE涂层测厚仪

美国LEE涂层测厚仪的详细介绍

美国LEE涂层测厚仪
 测厚仪标准配置:主机(内置探头)、标准片组、七号电池、操作指南、铁基底材、挂绳、仪器箱等仪器小型紧凑、坚固耐用、用途广泛,可单手操作。该设计便携耐用,使其能在苛刻条件下正常使用。所有测厚仪具有的一键操作功能,无须校准,也不用重设即可进行下一次测量,无需对操作人员进行培训即可操作。 
 
 L170/L200/L360/L180涂镀层测厚仪技术参数
 

型号L170L200L360L180
基体FeFe/NFeFeNFe
测量范围(µm)0 ~ 12500 ~ 12500 ~ 60000 ~ 1250
小曲率凸半径:5mm;凹半径:25mm
薄基体Fe0.2mmNFe0.05mm
 测量范围:0 ~ 1250µ 0 ~ 6000µm*各型号测量范围请见左表准确度:±[(1 ~ 3) % H+1µm]分辨率:µ 1%真实值小测量面积:Փ15mm尺寸:112×69×28mm重量:82g(不含电池)单位:一键即可实现英制和公制之间的单位转换电池:41.5AAA电池自动关机延长电池使用寿命
美国Lee Instruments 公司 涂镀层测厚仪系列产品


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