2600系列数字源表系列给电子元器件和半导体制造商提供了一个灵活的、高效的、极具的方案，适合于DC、脉冲和低频AC的源-测量测试。基于初2400系列数字源表的紧凑集成源-测量技术，2600系列仪器在I-V测试应用中 能够提供相当于同类产品的二到四倍的测试速度。它们还具备更高的源测量通道密度并且比同类产品显著地降低了使用成本。的模数转换器在小于100μs的时间内 可同时提供I和V测量值 (10,000 读数/s)，源-测量扫描速度为200μs每点 (5,500 点/s)。这种高速的源-测量能力加上的自动化特性及软件工具使得2600系列数字源表系列成为广泛用于多种器件I-V测试的理想方案。
