IM9100 SMD测试治具日本日置HIOKI用于IM3536测试仪
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DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的产品
测量频率DC,4Hz~8MHz
测量时间:快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
根据JIS标准测试电解电容器,电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大,因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。
LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz,适用于以上产品特性评估。
陶瓷电容器可分为,随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz,内置电压范围10mV~5V,非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。
电感器(线圈)所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。
LCR测试仪IM3536的测量频率很广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改变测试频率进行测试。
LCR测试仪IM3536的测量频率较广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,非常适合于评估连续改变频率的测量。在计算机中安装附件LCR采用应用软件(CD-R),并通过接口(USB, GP-IB, RS-232C),可以进行扫频功能,自动测量出的测量数值能够以Excel或CSV格式进行保存。
宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。
可变频率:DC, 4 Hz〜8 MHz
电压可变:10 mV〜5 V(V模式/CV模式)
电流可变:10 μA〜100 mA(CC模式)
※能够使用计算机设置扫频(或电压、电流),并将测量数据以CSV或Excel格式保存。应用软件请使用标配的CD进行安装,或从HP中下载
连续测量功能:希望以1kHz检查电源电感的L-Q,还想检查直流电阻(Rdc)。这时,1台IM3536就可以在2种测试要求下进行连续高速测试。
线长补偿设置可设置为:0 m / 1 m / 2 m / 4 m。测试线延长时也能保证精度。
4端子测量时,预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,并在过所设阈值时发出报警信号。
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
DC~200kH,50 Ω,1 m长
线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
DC~8 MHz, 直接连接型
直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
直接连接型,40Hz~8MHz,大外加电压DC±40V
直接连接型,40Hz~2MHz,大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
用于更换L2001的前端的小型尺寸
DC~5MHz,1m长
线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
2m长
9pin-9pin,1.8m长